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乏信息可靠性分析

乏信息可靠性分析

定　價：￥120.00

作　者： 夏新濤
出版社： 科學出版社
叢編項：
標　簽： 電子 通信 工業(yè)技術 一般性問題
ISBN： 9787030549969 出版時間： 2017-11-01 包裝： 平裝
開本： B5 頁數(shù)： 340 字數(shù)：  

內容簡介

　　本書主要論述乏信息可靠性評估與預測方法，主要內容包括：乏信息可靠性分析的基本概念、二參數(shù)Weibull分布可靠性評估、三參數(shù)Weibull分布可靠性評估與假設檢驗、失效數(shù)據(jù)的可靠性模型評估、無失效數(shù)據(jù)的可靠性預測、制造過程的可靠性評估、機械產品的品質實現(xiàn)可靠性評估、性能數(shù)據(jù)驅動的可靠性演變過程預測等。

作者簡介

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