激光檢測技術(shù)及應(yīng)用

第1章 激光概述
1.1 激光的概念及特點
1.1.1 激光的概念
1.1.2 激光的特點
1.1.3 激光的應(yīng)用
1.2 激光檢測技術(shù)的發(fā)展動態(tài)
第2章 激光器的基本構(gòu)成與工作原理
2.1 黑體輻射的普朗克公式
2.2 光與物質(zhì)相互作用的三個過程
2.2.1 自發(fā)輻射
2.2.2 受激輻射
2.2.3 受激吸收
2.2.4 三個愛因斯坦系數(shù)之間的關(guān)系
2.3 激光產(chǎn)生的條件
2.3.1 受激輻射光放大
2.3.2 粒子數(shù)反轉(zhuǎn)
2.3.3 激活粒子的能級系統(tǒng)
2.3.4 光的自激振蕩
2.4 激光器的基本構(gòu)成
2.4.1 工作物質(zhì)
2.4.2 泵浦源
2.5 典型激光器
2.5.1 固體激光器
2.5.2 氣體激光器
2.5.3 液體激光器
2.5.4 半導(dǎo)體激光器
2.5.5 其他激光器
第3章 高斯光束
3.1 基本性質(zhì)
3.1.1 振幅分布及光斑半徑
3.1.2 等相面分布
3.1.3 遠(yuǎn)場發(fā)散角
3.1.4 瑞利長度
3.2 特征參數(shù)
3.2.1 束腰半徑W0和束腰位置
3.2.2 光斑半徑W（Z）和等相面曲率半徑R（Z）
3.2.3 高斯光束的q參數(shù)
3.3 變換方法
3.3.1 普通球面波的傳輸與變化規(guī)律
3.3.2 高斯光束的傳輸與變化規(guī)律
3.3.3 實例分析
3.4 特性改善
3.4.1 高斯光束的聚焦
3.4.2 高斯光束的準(zhǔn)直
3.4.3 高斯光束的自再現(xiàn)變換
3.4.4 高斯光束的匹配
第4章 激光光束質(zhì)量檢測技術(shù)
4.1 光束質(zhì)量評價方法
4.1.1 激光束束寬的定義
4.1.2 光束質(zhì)量評價方法
4.2 光束質(zhì)量檢測技術(shù)
4.2.1 光束束寬測量
4.2.2 遠(yuǎn)場發(fā)散角測量
4.2.3 M2因子測量
4.3 CCD圖像傳感器
4.3.1 CCD概念
4.3.2 CCD工作原理
4.3.3 CCD基本特性參數(shù)
4.3.4 激光束診斷中的CCD相機(jī)
4.4 激光光束質(zhì)量檢測技術(shù)的應(yīng)用
4.4.1 激光制造領(lǐng)域
4.4.2 信息與通信領(lǐng)域
4.4.3 醫(yī)療保健與生命科學(xué)領(lǐng)域
4.4.4 國防科技領(lǐng)域
第5章 激光光束質(zhì)量檢測技術(shù)在超小GRIN光纖探針研究中的應(yīng)用
5.1 超小GRIN光纖探針概述
5.2 超小GRIN光纖探針設(shè)計
5.3 超小GRIN光纖探針聚焦性能檢測
5.3.1 光學(xué)變換系統(tǒng)
5.3.2 精密調(diào)整方法
5.3.3 實驗數(shù)據(jù)處理
第6章 激光光束質(zhì)量數(shù)值分析技術(shù)——VirtualLab
6.1 場追跡原理
6.2 場追跡光學(xué)軟件VirtualLab概述
6.2.1 VirtualLab的技術(shù)背景和基本思想
6.2.2 VirtualLab的工具箱
6.3 VirtualLab的理論基礎(chǔ)與光學(xué)元件設(shè)置
6.3.1 電磁諧波場
6.3.2 傳輸算子
6.3.3 光源
6.3.4 光學(xué)元件
6.3.5 探測器
6.4 VirtualLab的基本操作
6.4.1 用戶界面結(jié)構(gòu)
6.4.2 光學(xué)系統(tǒng)的創(chuàng)建方法
6.4.3 光學(xué)系統(tǒng)性能分析
6.5 應(yīng)用案例——GRIN光纖探頭數(shù)值分析
第7章 激光光束質(zhì)量仿真技術(shù)——GLAD
7.1 GLAD簡介
7.2 GRIN光纖探頭在GLAD中的建模方法
7.3 GRIN光纖探頭在GLAD中的參數(shù)設(shè)計方法
7.4 GRIN光纖探頭在GLAD中的傳光特性仿真
第8章 激光測量技術(shù)
8.1 激光干涉儀測量技術(shù)
8.1.1 光纖Michelson干涉儀
8.1.2 光纖Mach-Zenhder 干涉儀
8.1.3 光纖Sagnac干涉儀
8.1.4 光纖F-P干涉儀
8.2 光學(xué)相干層析技術(shù)
8.2.1 背景
8.2.2 光學(xué)相干層析技術(shù)的成像特點
8.2.3 光學(xué)相干層析技術(shù)的成像原理
8.2.4 OCT系統(tǒng)主要組成部件
8.2.5 OCT系統(tǒng)分類
8.2.6 OCT系統(tǒng)參數(shù)
8.2.7 光學(xué)相干層析技術(shù)的研究及應(yīng)用現(xiàn)狀
參考文獻(xiàn)