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電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)

定　價(jià)：￥4.20

作　者： 盧昆祥編著
出版社： 天津科學(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 測(cè)試 電子元件
ISBN： 9787530801956 出版時(shí)間： 1987-12-01 包裝：
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 304頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)是電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的中級(jí)讀物。內(nèi)容包括電子元器件和可靠性試驗(yàn)和電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)兩大部分。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)》作者簡(jiǎn)介

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