注冊 | 登錄讀書好，好讀書，讀好書！
讀書網(wǎng)-DuShu.com
當前位置： 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)無線電電子學(xué)、電信技術(shù)半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化

定　價：￥16.40

作　者： （英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主編；李錦林等譯
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項：
標　簽： 電路
ISBN： 9787030011640 出版時間： 1989-01-01 包裝：
開本： 21cm 頁數(shù)： 463頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書闡述了用硅、砷化鎵及磷化銦等材料制作的雙極型晶體管，場效應(yīng)晶體管、發(fā)光二極管、半導(dǎo)體激光器以及微波集成電路等各種半導(dǎo)體器件和電路的可靠性和退化 問題。

作者簡介

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》作者簡介

圖書目錄

暫缺《半導(dǎo)體器件及電路的可靠性與退化》目錄

本目錄推薦

掃描二維碼
Copyright ? 讀書網(wǎng) www.leeflamesbasketballcamps.com 2005-2020, All Rights Reserved.
鄂ICP備15019699號 鄂公網(wǎng)安備 42010302001612號