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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　光學(xué)測(cè)試技術(shù)是利用光學(xué)方法測(cè)量光學(xué)量與非光學(xué)量的一門(mén)應(yīng)用技術(shù)的學(xué)科。它的內(nèi)容隨著科學(xué)技術(shù)和工藝水平的發(fā)展，變得越來(lái)越豐富。當(dāng)代的電子技術(shù)、激光技術(shù)、傳感器技術(shù)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)日新月異，并且快速的應(yīng)用到光學(xué)測(cè)量領(lǐng)域中，使得現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)早已成為一門(mén)多領(lǐng)域交叉融合的綜合學(xué)科。本書(shū)主要內(nèi)容：首先介紹了光學(xué)測(cè)量的基本知識(shí)；然后介紹了光學(xué)測(cè)量的常見(jiàn)方法與系統(tǒng)；最后介紹了各類光學(xué)特性參數(shù)以及多種幾何量的測(cè)試方法。本書(shū)主要聚焦于生產(chǎn)和科研實(shí)踐中最常用的光學(xué)測(cè)量手段，介紹它們的原理與應(yīng)用。本書(shū)旨在向?qū)W生和研究人員介紹各種光學(xué)測(cè)量技術(shù)的理論和實(shí)踐。