面向神經(jīng)網(wǎng)絡的模擬型阻變存儲器的可靠性研究

第1章引言
1.1神經(jīng)網(wǎng)絡硬件概述
1.2阻變存儲器件與存算一體技術(shù)
1.2.1阻變存儲器概述
1.2.2模擬型阻變存儲器概述
1.2.3基于阻變存儲器的存算一體原理
1.3面向神經(jīng)網(wǎng)絡的阻變存儲器可靠性研究現(xiàn)狀及挑戰(zhàn)
1.3.1可靠性研究現(xiàn)狀
1.3.2面臨的關鍵問題與挑戰(zhàn)
1.4本書內(nèi)容安排
第2章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的模擬型阻變存儲器可靠性評估方法
2.1可靠性評估框架
2.2可靠性評估參數(shù)與需求
2.3可靠性表征方法
2.3.1模擬型阻變器件單元與陣列
2.3.2測試系統(tǒng)
2.3.3測試方法
2.4可靠性模擬方法
2.5可靠性影響的量化方法
2.6本章小結(jié)
第3章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的數(shù)據(jù)保持特性研究
3.1數(shù)據(jù)保持特性行為分析與建模
3.1.1多阻態(tài)的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.1.2多溫度的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.1.3差分陣列的數(shù)據(jù)保持特性分析與建模
3.2數(shù)據(jù)保持特性的物理機理研究
3.3數(shù)據(jù)保持特性對神經(jīng)網(wǎng)絡準確率的影響
3.3.1面向雙層感知機的數(shù)據(jù)保持退化影響評估
3.3.2面向RESNET-20的數(shù)據(jù)保持退化影響評估
3.4本章小結(jié)
第4章面向神經(jīng)網(wǎng)絡的循環(huán)耐久性研究
4.1循環(huán)耐久性行為分析與建模
4.1.1耐擦寫次數(shù)與動態(tài)范圍的關系
4.1.2循環(huán)耐久性退化對非線性的影響
4.1.3循環(huán)耐久性退化對開關比的影響
4.2循環(huán)耐久性的物理機理研究
4.3循環(huán)耐久性對神經(jīng)網(wǎng)絡準確率的影響
4.4本章小結(jié)
第5章總結(jié)與展望
5.1全書工作總結(jié)
5.2本書工作主要創(chuàng)新點
5.3下一步研究工作的展望
參考文獻
在學期間完成的相關學術(shù)成果
致謝