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高等儀器分析

高等儀器分析

定　價(jià)：￥98.00

作　者： 王霆，孫鐵東
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺

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ISBN： 9787030762153 出版時(shí)間： 2023-09-01 包裝： 平裝膠訂
開本： 16開 頁(yè)數(shù)： 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書圍繞分子結(jié)構(gòu)解析和材料表界面研究，分九章系統(tǒng)介紹與之相關(guān)的各種先進(jìn)儀器分析方法，包括質(zhì)譜分析法、一維核磁共振波譜分析法、二維核磁共振波譜分析法、紅外和拉曼波譜分析法、紫外和分子熒光波譜分析法、X射線衍射分析法、X射線光電子能譜分析法、表面顯微分析法。對(duì)于每種方法的發(fā)展史、基本原理、常用概念、主要測(cè)定技術(shù)、測(cè)試影響因素以及方法的應(yīng)用實(shí)例都給出了深入的介紹。

作者簡(jiǎn)介

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