超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)及應(yīng)用

序
前言
第1章 超聲檢測(cè)理論基礎(chǔ)1
11 超聲波及其頻率特性1
111 超聲波的產(chǎn)生1
112 超聲波頻率及帶寬1
12 超聲波的傳播3
121 超聲波的傳播類型3
122 超聲波的疊加5
123 超聲波的波型6
124 超聲波的傳播速度與波長(zhǎng)7
125 超聲波的物理特性8
13 超聲波在界面的反射和透射10
131 超聲波垂直入射的反射和透射10
132 超聲波斜入射的反射特性12
133 超聲波斜入射的聲壓分布15
134 超聲波邊緣衍射特性21
135 特殊界面超聲波反射特性23
14 超聲波聲場(chǎng)26
141 圓形晶片超聲波聲場(chǎng)26
142 方形晶片超聲波聲場(chǎng)31
143 有延遲塊聲場(chǎng)33
144 聚焦聲場(chǎng)35
145 平面反射聲壓36
146 曲面反射聲壓38
15 超聲波當(dāng)量定量39
151 計(jì)算法定量39
152 距離波幅曲線定量42
153 距離增益當(dāng)量曲線定量43
154 超聲波衰減45
155 超聲波衰減系數(shù)測(cè)量48
第2章 超聲相控陣?yán)碚摶A(chǔ)51
21 超聲相控陣技術(shù)基本原理51
22 超聲相控陣超聲信號(hào)53
221 超聲相控陣探頭聲場(chǎng)53
222 超聲相控陣信號(hào)合成54
223 超聲相控陣信號(hào)顯示54
23 超聲相控陣信號(hào)顯示模式56
231 相控陣扇形掃查56
232 線性電子掃查57
233 C掃描顯示62
24 超聲相控陣靈敏度修正65
241 扇形掃查靈敏度修正65
242 線性掃查靈敏度修正68
25 超聲相控陣技術(shù)關(guān)鍵性能69
第3章 超聲相控陣探頭75
31 超聲探頭基本結(jié)構(gòu)75
32 超聲探頭主要技術(shù)參數(shù)77
33 超聲探頭類型84
34 超聲相控陣探頭相關(guān)參數(shù)86
341 超聲相控陣探頭類型86
342 超聲相控陣探頭常見(jiàn)工作模式87
35 超聲相控陣探頭特有技術(shù)參數(shù)88
36 超聲相控陣探頭特有性能90
第4章 超聲相控陣儀器92
41 超聲檢測(cè)儀技術(shù)性能92
42 超聲相控陣儀器主要性能96
421 超聲相控陣儀器功能模塊96
422 延時(shí)聚焦法則數(shù)97
423 超聲相控陣儀器掃查模式99
424 延時(shí)控制器101
425 超聲相控陣發(fā)射與接收模塊101
43 超聲相控陣關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)102
第5章 超聲相控陣設(shè)備綜合性能測(cè)試108
51 超聲相控陣設(shè)備靈敏度綜合性能測(cè)試108
511 各通道靈敏度一致性測(cè)試108
512 靈敏度余量測(cè)試109
513 相控陣ACG/TCG補(bǔ)償誤差測(cè)試110
514 相控陣垂直線性測(cè)試112
515 TCG/ACG補(bǔ)償增益溢出測(cè)試113
52 超聲相控陣信號(hào)顯示綜合性能測(cè)試114
521 定位誤差測(cè)量114
522 顯示分辨力測(cè)試114
53 超聲相控陣聚焦法則基本測(cè)試117
531 超聲相控陣角度偏轉(zhuǎn)能力及精度測(cè)試117
532 超聲相控陣聚焦能力測(cè)試118
54 超聲波聲場(chǎng)測(cè)試120
55 超聲相控陣綜合性能測(cè)試時(shí)機(jī)122
第6章 超聲相控陣檢測(cè)基本工藝124
61 制訂檢測(cè)工藝基本流程124
62 根據(jù)被檢測(cè)工件信息確定檢測(cè)方式124
63 超聲相控陣探頭選擇126
631 探頭類型的選擇126
632 探頭掃查方式的選擇127
633 相控陣探頭參數(shù)的選擇129
64 超聲相控陣儀器選擇130
65 設(shè)計(jì)加工標(biāo)準(zhǔn)試塊及對(duì)比試塊135
66 超聲相控陣儀器設(shè)置137
661 探頭設(shè)置137
662 被檢測(cè)工件設(shè)置138
663 超聲相控陣掃查模式設(shè)置139
664 發(fā)射與接收設(shè)置141
67 定位校準(zhǔn)142
68 TCG/ACG 深度校準(zhǔn)和角度校準(zhǔn)145
69 掃查檢測(cè)工藝147
610 缺陷圖像分析及測(cè)量152
6101 扇形掃查圖像分析152
6102 線性電子掃查圖像分析155
6103 C掃描圖像分析161
611 缺陷評(píng)判163
612 檢測(cè)報(bào)告166
第7章 橫波扇形掃查檢測(cè)焊接接頭基本工藝168
71 焊接概述168
72 焊縫中常見(jiàn)的內(nèi)部缺陷169
73 焊接接頭形式173
731 對(duì)接接頭173
732 T形接頭174
733 角接接頭175
74 焊接接頭質(zhì)量檢測(cè)及評(píng)判方法176
75 橫波扇形掃查探頭選擇及儀器設(shè)置178
751 焊接接頭超聲相控陣檢測(cè)探頭選擇178
752 焊接接頭超聲相控陣檢測(cè)儀器基本設(shè)置179
76 焊接接頭各缺陷檢測(cè)方法182
761 裂紋檢測(cè)方法182
762 未熔合檢測(cè)方法186
763 未焊透檢測(cè)方法188
764 內(nèi)部體積狀缺陷檢測(cè)方法189
77 焊縫檢測(cè)超聲相控陣基本校準(zhǔn)190
78 焊縫檢測(cè)掃查方式191
79 其他工藝項(xiàng)目194
710 評(píng)判驗(yàn)收195
7101 基于缺陷長(zhǎng)度及自身高度評(píng)判195
7102 基于缺陷長(zhǎng)度與幅值評(píng)判驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)199
711 檢測(cè)報(bào)告201
712 橫波扇形掃查其他檢測(cè)應(yīng)用202
第8章 縱波線性垂直掃查檢測(cè)基本工藝203
81 縱波線性垂直掃查檢測(cè)缺陷類型203
82 縱波線性垂直掃查探頭選擇205
83 縱波線性垂直掃查對(duì)相控陣儀器的要求206
84 縱波線性垂直掃查儀器基本設(shè)置207
85 縱波線性垂直掃查基本校準(zhǔn)208
86 掃查檢測(cè)模式209
87 線性垂直掃查關(guān)鍵性能211
88 檢測(cè)結(jié)果分析214
89 檢測(cè)報(bào)告215
第9章 縱波扇形掃查檢測(cè)基本工藝216
91 縱波扇形掃查檢測(cè)應(yīng)用216
92 縱波扇形掃查探頭選擇218
93 縱波扇形掃查相控陣儀器要求219
94 縱波扇形掃查相控陣儀器基本設(shè)置219
95 縱波扇形掃查基本校準(zhǔn)220
96 縱波