光斑定位技術(shù)

篇 光斑定位技術(shù)
章 光電測(cè)量技術(shù)
1．1 引言
1．2 光電測(cè)量技術(shù)特點(diǎn)與分類
1．2．1 光電測(cè)量技術(shù)特點(diǎn)
1．2．2 光電測(cè)量技術(shù)分類
第2章 光斑位置檢測(cè)技術(shù)
2．1 光斑位置測(cè)量技術(shù)
2．1．1 光斑位置測(cè)量概述
2．1．2 光斑位置測(cè)量技術(shù)
2．2 光斑位置測(cè)量技術(shù)應(yīng)用
2．2．1 同軸度測(cè)量技術(shù)
2．2．2 建筑變形測(cè)量技術(shù)
2．2．3 光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù)
2．2．4 激光三維面形測(cè)量技術(shù)
2．2．5 運(yùn)動(dòng)測(cè)量技術(shù)
2．3 光斑位置測(cè)量中的數(shù)據(jù)處理
第3章 光斑位置檢測(cè)器件
3．1 實(shí)現(xiàn)光斑位置檢測(cè)的器件
3．1．1 CCD器件
3，1．2 CMOS圖像傳感器
3．1．3 PSD器件
3．2 半導(dǎo)體激光準(zhǔn)直光源
3．2．1 激光二極管（LD）
3．2．2 準(zhǔn)直透鏡
3．2．3 整形棱鏡
3．2．4 驅(qū)動(dòng)電路
3．3 PSD器件
3．3．1 橫向光電效應(yīng)簡介
3．3．2 PSD性能指標(biāo)
3．3．3 影響PSD測(cè)量精度的因素
3．4 PSD光斑定位技術(shù)
3．4．1 PSD應(yīng)用的原則
3．4．2 光斑定位算法
3．4．3 與光斑定位有關(guān)的二維表快速檢索算法
3．4．4 PSD器件非線性誤差的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)修正方法
3．4．5 一維光斑位置傳感器非線性誤差修正
3．5 環(huán)境光的影響與消除
3．5．1 環(huán)境光的影響模式
3．5．2 消除環(huán)境光影響的方法
3．5．3 試驗(yàn)結(jié)果
3．6 用一維PSD實(shí)現(xiàn)二維檢測(cè)
3．6．1 擴(kuò)大PSD量程的方法
3．6．2 用一維PSD實(shí)現(xiàn)二維檢測(cè)
3．7 光線定位技術(shù)
3．8 CMOS圖像傳感器用作光斑位置傳感器的研究
3．8．1 結(jié)構(gòu)形式及物鏡幾何畸變的校正
3．8．2 基于OV9120的光斑位置傳感器設(shè)計(jì)
3．9 大相對(duì)孔徑半導(dǎo)體激光準(zhǔn)直鏡的設(shè)計(jì)
3．9．1 半導(dǎo)體激光束經(jīng)圓孔的耦合效率
3．9．2 三片式大相對(duì)孔徑激光準(zhǔn)直物鏡的設(shè)計(jì)
……
第二篇 光斑定位技術(shù)應(yīng)用