專用集成電路實驗指導書

1Cadence系統(tǒng)環(huán)境設(shè)置與基本操作(1) 1.1實驗?zāi)康?1) 1.2實驗原理(1) 1.3實驗內(nèi)容(4) 2二輸入與非門電路原理圖設(shè)計(9) 2.1實驗?zāi)康?9) 2.2實驗原理(9) 2.3實驗內(nèi)容(11) 2.4拓展實驗(16) 3ADE 設(shè)置(18) 3.1實驗?zāi)康?18) 3.2實驗原理(18) 3.3實驗內(nèi)容(21) 4原理圖的層次化設(shè)計與仿真(29) 4.1實驗?zāi)康?29) 4.2實驗原理(29) 4.3實驗內(nèi)容(29) 4.4拓展實驗(42) 5ADE設(shè)置——MOS特性測量(43) 5.1實驗?zāi)康?43) 5.2實驗原理(43) 5.3實驗內(nèi)容(44) 5.4拓展實驗(53) 專用集成電路實驗指導書目錄6運算放大器的仿真驗證(54) 6.1實驗?zāi)康?54) 6.2實驗原理(54) 6.3實驗內(nèi)容(54) 7AMS數(shù)/?；旌戏抡嫫?62) 7.1實驗?zāi)康?62) 7.2實驗原理(62) 7.3實驗內(nèi)容(63) 7.4拓展實驗(68) 8Layout環(huán)境設(shè)置與基本操作(70) 8.1實驗?zāi)康?70) 8.2實驗原理(70) 8.3實驗內(nèi)容(71) 8.4拓展實驗(78) 9MOS版圖設(shè)計(79) 9.1實驗?zāi)康?79) 9.2實驗原理(79) 9.3實驗內(nèi)容(79) 9.4拓展實驗(83) 10BJT版圖設(shè)計(84) 10.1實驗?zāi)康?84) 10.2實驗原理(84) 10.3實驗內(nèi)容(87) 10.4拓展實驗(91) 11電阻、電容、二極管的版圖設(shè)計(92) 11.1實驗?zāi)康?92) 11.2實驗原理(92) 11.3 實驗內(nèi)容(96) 12CMOS反相器版圖設(shè)計與Diva版圖驗證工具(101) 12.1實驗?zāi)康?101) 12.2實驗原理(101) 12.3實驗內(nèi)容(104) 13NAND2版圖設(shè)計與Assura版圖驗證工具(115) 13.1實驗?zāi)康?115) 13.2實驗原理(115) 13.3實驗內(nèi)容(116) 13.4拓展實驗(134) 14環(huán)形振蕩器設(shè)計、仿真與Assura版圖驗證工具(135) 14.1實驗?zāi)康?135) 14.2實驗原理(135) 14.3實驗內(nèi)容(136) 15版圖寄生參數(shù)的提取與后仿真(151) 15.1實驗?zāi)康?151) 15.2實驗原理(151) 15.3實驗內(nèi)容(152) 16版圖數(shù)據(jù)的導入、導出與識別(168) 16.1實驗?zāi)康?168) 16.2實驗原理(168) 16.3 實驗內(nèi)容(169) 16.4拓展實驗(171) 17異或門與RS觸發(fā)器的設(shè)計(172) 17.1實驗?zāi)康?172) 17.2實驗原理(172) 17.2.1異或門的原理(172) 17.3實驗內(nèi)容(174) 17.3.4RS觸發(fā)器的設(shè)計(177) 17.4拓展實驗(179) 18靜態(tài)存儲器的設(shè)計(180) 18.1實驗?zāi)康?180) 18.2實驗原理(180) 18.3實驗內(nèi)容 (181) 18.4拓展實驗(182) 19D觸發(fā)器的設(shè)計(183) 19.1實驗?zāi)康?183) 19.2實驗原理(183) 19.3實驗內(nèi)容(185) 20對生成的GDS文件進行DRC及LVS(196) 20.1實驗?zāi)康?196) 20.2實驗原理(196) 20.3實驗內(nèi)容(196) 附錄(202) 參考文獻(209)