大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)II（第3版）

目錄前言第一章第一層次實(shí)驗(yàn)1實(shí)驗(yàn)一邁克爾遜干涉儀(一)1邁克爾遜干涉儀(二)5實(shí)驗(yàn)二衍射光柵9實(shí)驗(yàn)三直流電橋與電阻的測量16實(shí)驗(yàn)四不良導(dǎo)體導(dǎo)熱系數(shù)的測定19實(shí)驗(yàn)五非線性元件伏安特性的研究24實(shí)驗(yàn)六太陽電池伏安特性的測量29實(shí)驗(yàn)七電阻應(yīng)變傳感器33實(shí)驗(yàn)八集成電路溫度傳感器的特性測量及應(yīng)用41實(shí)驗(yàn)九光電傳感器基本特性的測量44實(shí)驗(yàn)十磁性材料基本特性的研究49實(shí)驗(yàn)十一霍爾效應(yīng)及其應(yīng)用55實(shí)驗(yàn)十二霍爾傳感器測量鐵磁材料的磁滯回線和磁化曲線62第二章第二層次實(shí)驗(yàn)70實(shí)驗(yàn)十三磁電阻傳感器實(shí)驗(yàn)70實(shí)驗(yàn)十四巨磁電阻效應(yīng)及應(yīng)用78實(shí)驗(yàn)十五CCD微機(jī)密立根油滴實(shí)驗(yàn)91實(shí)驗(yàn)十六夫蘭克赫茲實(shí)驗(yàn)96實(shí)驗(yàn)十七利用聲光器件測定光速及透明介質(zhì)中的聲速100(一)光速的測定100(二)透明介質(zhì)里的聲速測量105實(shí)驗(yàn)十八液晶電光效應(yīng)特性研究108實(shí)驗(yàn)十九壓電陶瓷特性及振動(dòng)的干涉測量113實(shí)驗(yàn)二十光纖傳感器設(shè)計(jì)與應(yīng)用116實(shí)驗(yàn)二十一物體色度值的測量123實(shí)驗(yàn)二十二用光學(xué)多通道分析器研究氫原子光譜133實(shí)驗(yàn)二十三電子束的電偏轉(zhuǎn)和磁偏轉(zhuǎn)研究139實(shí)驗(yàn)二十四磁聚焦法測定電子荷質(zhì)比148實(shí)驗(yàn)二十五光纖通信原理158實(shí)驗(yàn)二十六音頻信息的光纖通信174第三章第三層次實(shí)驗(yàn)180(一)近代物理實(shí)驗(yàn)180實(shí)驗(yàn)二十七微波電子順磁共振實(shí)驗(yàn)180實(shí)驗(yàn)二十八熱重法分析物質(zhì)固相反應(yīng)192實(shí)驗(yàn)二十九紅外分光光度計(jì)的使用194實(shí)驗(yàn)三十拉曼光譜實(shí)驗(yàn)200實(shí)驗(yàn)三十一原子力顯微鏡(ＡＦＭ)觀察光柵表面形貌204實(shí)驗(yàn)三十二掃描隧道顯微鏡(ＳＴＭ)觀察光柵表面形貌209實(shí)驗(yàn)三十三低溫巨磁阻效應(yīng)實(shí)驗(yàn)213實(shí)驗(yàn)三十四真空鍍膜系列實(shí)驗(yàn)217(一)真空技術(shù)及蒸發(fā)鍍膜217(二)離子濺射鍍膜224(三)真空的獲得與真空鍍膜227(二)設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)241實(shí)驗(yàn)三十五亥姆霍茲線圈磁場分布規(guī)律的研究241實(shí)驗(yàn)三十六利用硅光電池測量高錳酸鉀濃度與透射率關(guān)系242實(shí)驗(yàn)三十七均勻毫特斯拉級(jí)弱磁場的建立及其直接測量243實(shí)驗(yàn)三十八光電二極管伏安特性的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集245實(shí)驗(yàn)三十九磁性材料居里溫度計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集246實(shí)驗(yàn)四十RC電路暫穩(wěn)態(tài)的研究248實(shí)驗(yàn)四十一薄膜制備技術(shù)及性能測試249實(shí)驗(yàn)四十二坡莫合金磁阻傳感器特性研究和應(yīng)用250實(shí)驗(yàn)四十三ＰＮ結(jié)物理特性的測量252實(shí)驗(yàn)四十四模擬電冰箱制冷系數(shù)的測量254實(shí)驗(yàn)四十五硅光電池特性的研究256附錄不確定度和數(shù)據(jù)處理基礎(chǔ)知識(shí)257附錄A測量與誤差257附錄B測量的不確定度和測量結(jié)果的表示259附錄C有效數(shù)字及其運(yùn)算規(guī)則265附錄D數(shù)據(jù)處理的基本方法267參考文獻(xiàn)273