能量色散X射線熒光光譜

前言
緒論 能量色散和波長(zhǎng)色散x射線熒光譜的比較
0.1 概述
0.2 wdxrf和edxrf譜儀色散方法
0.3 用于wdxrf和edxrf比較的譜儀
0.4 wdxrf和edxrf譜儀本身引起的譜線干擾
0.5 檢出限
0.6 分辨率
0.7 準(zhǔn)確度和精密度
0.8 分析時(shí)間
0.9 edxrf和wdxrf譜儀比較小結(jié)
0.1 0edxrf和wdxrf譜儀合為一體的譜儀
參考文獻(xiàn)
第一章 x射線熒光光譜物理學(xué)基礎(chǔ)
1.1 x射線的本質(zhì)和定義
1.2 x射線與物質(zhì)的相互作用
1.3 莫塞萊（moseley）定律
1.4 熒光產(chǎn)額
1.5 譜線分?jǐn)?shù)
參考文獻(xiàn)
第二章 激發(fā)和激發(fā)源
2.1 x射線管
2.2 原級(jí)譜激發(fā)
2.3 二次靶激發(fā)
2.4 放射性核素激發(fā)源
2.5 同步輻射光源
2.6 質(zhì)子激發(fā)
參考文獻(xiàn)
第三章 探測(cè)器
3.1 概述
3.2 x射線探測(cè)器的主要技術(shù)指標(biāo)
3.3 能量探測(cè)器組成
3.4 常用的探測(cè)器簡(jiǎn)介
參考文獻(xiàn)
第四章 能量色散x射線熒光光譜儀結(jié)構(gòu)
4.1 概述
4.2 通用型和手持式edxrf譜儀測(cè)量單元
4.3 微束edxrf譜儀測(cè)量單元
4.4 偏振edxrf譜儀測(cè)量單元
4.5 全反射edxrf譜儀測(cè)量單元
4.6 測(cè)量單元中激發(fā)系統(tǒng)
4.7 探測(cè)器
4.8 記錄單元
參考文獻(xiàn)
第五章 譜處理
5.1 引言
5.2 感興趣區(qū)的設(shè)置和ka/kb強(qiáng)度比的應(yīng)用
5.3 基準(zhǔn)譜在譜處理中的應(yīng)用
5.4 分析函數(shù)在譜處理中的應(yīng)用
5.5 偏最小二乘法
參考文獻(xiàn)
第六章 基體效應(yīng)
6.1 引言
6.2 元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)
6.3 物理化學(xué)效應(yīng)
參考文獻(xiàn)
第七章 元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)的校正
7.1 引言
7.2 基本參數(shù)法
7.3 理論影響系數(shù)法
7.4 經(jīng)驗(yàn)影響系數(shù)法
7.5 基本參數(shù)法和影響系數(shù)法的比較
參考文獻(xiàn)
第八章 散射線在校正基體效應(yīng)中的應(yīng)用
8.1 引言
8.2 散射線校正吸收效應(yīng)的基本原理
8.3 散射線在基體校正中的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第九章 定性和半定量分析
9.1 概述
9.2 定性和半定量分析條件的設(shè)定
9.3 定性分析步驟
9.4 半定量分析的基本原理
9.5 rhk?？灯疹D散射線的定量分析實(shí)例
9.6 改善半定量分析結(jié)果準(zhǔn)確度的方法
9.7 結(jié)論
參考文獻(xiàn)
第十章 定量分析方法（1）——分析條件的設(shè)置
10.1 概述
10.2 取樣和制樣
10.3 分析條件的選擇
參考文獻(xiàn)
第十一章 定量分析方法（2）——校準(zhǔn)曲線的制定
11.1 概述
11.2 校準(zhǔn)曲線模式
11.3 凈強(qiáng)度
11.4 校準(zhǔn)曲線的制定
11.5 定量分析方法的評(píng)價(jià)
11.6 譜儀漂移校正
參考文獻(xiàn)
第十二章 定量分析（3）——鍍層和薄膜材料分析
12.1 概述
12.2 常規(guī)定量分析方法在單層樣分析中的應(yīng)用
12.3 基本參數(shù)法應(yīng)用于多層鍍膜分析
12.4 三維共聚焦xrf譜儀用多層膜厚度分析
參考文獻(xiàn)
第十三章 xrf定量分析中不確定度評(píng)定
13.1 引言
13.2 名詞術(shù)語(yǔ)
13.3 測(cè)量結(jié)果的分布
13.4 測(cè)量不確定度
13.5 測(cè)量不確定度的報(bào)告
13.6 計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差和光子計(jì)數(shù)的不確定度
13.7 異常數(shù)據(jù)的剔除
參考文獻(xiàn)
第十四章 xrf標(biāo)準(zhǔn)方法
14.1 概述
14.2 標(biāo)準(zhǔn)的分類(lèi)
14.3 我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的編號(hào)
14.4 我國(guó)的xrf標(biāo)準(zhǔn)
14.5 xrf國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
14.6 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
參考文獻(xiàn)
第十五章 樣品制備
15.1 概述
15.2 固體塊樣的制備
15.3 粉末和粉末壓片的制備
15.4 玻璃熔片的制備
15.5 其他樣品制備方法
參考文獻(xiàn)
第十六章 地質(zhì)樣品分析
16.1 引言
16.2 edxrf譜儀在地質(zhì)樣品現(xiàn)場(chǎng)分析中的應(yīng)用
16.3 edxrf譜儀在實(shí)驗(yàn)室分析中的應(yīng)用
16.4 μ-edxrf譜儀在地質(zhì)分析中的應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第十七章 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)分析
17.1 概述
17.2 樣品制備
17.3 rolls篩選的方法
參考文獻(xiàn)
第十八章 文物分析
18.1 引言
18.2 edxrf譜儀在文物分析中的應(yīng)用
18.3 edxrf譜儀應(yīng)用于古陶瓷斷源、斷代的必要條件
18.4 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第十九章 水泥原材料分析
19.1 引言
19.2 分析對(duì)象
19.3 基體效應(yīng)
19.4 樣品制備
19.5 測(cè)定條件
19.6 校準(zhǔn)曲線的制定
19.7 精密度
19.8 準(zhǔn)確度
參考文獻(xiàn)
附錄