無(wú)損檢測(cè)

第1章 總論
1.1　概述
1.2　無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)
1.3　缺陷的種類及其產(chǎn)生原因
1.4　材料和構(gòu)件中缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系
1.5　無(wú)損檢測(cè)方法的選擇
第2章　滲透檢測(cè)和磁粉檢測(cè)
2.1　滲透檢測(cè)的特點(diǎn)及適用范圍
2.2　滲透檢測(cè)的原理和方法
2.3　滲透檢測(cè)的應(yīng)用實(shí)例
2.4　磁粉檢測(cè)的特點(diǎn)及適用范圍
2.5　磁粉檢測(cè)原理和方法
2.6　磁粉檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例
第3章　射線檢測(cè)
3.1　射線檢測(cè)的特點(diǎn)和適用范圍
3.2　射線源及其特性
3.3　射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)
3.4　射線檢測(cè)原理、設(shè)備和器材
3.5　射線照相法檢測(cè)的應(yīng)用實(shí)例
第4章　超聲波檢測(cè)
4.1　超聲波檢測(cè)的特點(diǎn)和適用范圍
4.2　超聲波的產(chǎn)生及其性質(zhì)
4.3　超聲波儀器、探頭和試塊
4.4　超聲波檢測(cè)的應(yīng)用
第5章　渦流檢測(cè)
5.1　渦流檢測(cè)的特點(diǎn)和適用范圍
5.2　渦流檢測(cè)原理
5.3　影響渦流檢測(cè)的因素
5.4　渦流的產(chǎn)生與檢測(cè)
5.5　渦流檢測(cè)傳感器(探頭)
5.6　檢測(cè)線圈與試件的相對(duì)運(yùn)動(dòng)
5.7　檢測(cè)線圈的設(shè)計(jì)與性能評(píng)價(jià)
5.8　渦流檢測(cè)儀器設(shè)備
5.9　渦流檢測(cè)基本操作技術(shù)
5.10　渦流檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例
第6章　聲發(fā)射檢測(cè)
6.1　聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn)及應(yīng)用
6.2　聲發(fā)射產(chǎn)生的條件及其性質(zhì)
6.3　聲發(fā)射換能器
6.4　聲發(fā)射信號(hào)的表征
6.5　聲發(fā)射檢測(cè)實(shí)例
6.6　聲發(fā)射監(jiān)測(cè)在某些工業(yè)上的應(yīng)用
第7章　熱和紅外檢測(cè)
7.1　基本原理
7.2　接觸溫度記錄方法
7.3　非接觸的溫度記錄方法——紅外成像
7.4　接觸溫度記錄法的檢測(cè)元件
7.5　非接觸的溫度測(cè)量裝置
第8章　微波檢測(cè)
8.1　微波檢測(cè)的專門技術(shù)
8.2　微波檢測(cè)設(shè)備
8.3　厚度的精密計(jì)量
8.4　不均勻性的檢測(cè)
8.5　金屬表面裂紋的微波檢測(cè)
8.6　其他性能的微波測(cè)試
8.7　微波檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例
第9章　應(yīng)變測(cè)試
9.1　應(yīng)力與應(yīng)變的關(guān)系
9.2　表面兩點(diǎn)間距離或點(diǎn)應(yīng)力的測(cè)試方法
9.3　應(yīng)變測(cè)試操作
9.4　運(yùn)動(dòng)構(gòu)件應(yīng)變測(cè)量
9.5　高(低)溫條件下應(yīng)變測(cè)量
9.6　高壓液下的應(yīng)變測(cè)量
第10章　各種無(wú)損檢測(cè)方法的對(duì)比和應(yīng)用
10.1　無(wú)損檢測(cè)方法的分類及反饋
10.2　內(nèi)部缺陷的檢測(cè)
10.3　表層缺陷的檢測(cè)
10.4　各種無(wú)損檢測(cè)方法的適用范圍
第11章　無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)
11.1　激光全息無(wú)損檢測(cè)
11.2　聲振檢測(cè)法
參考文獻(xiàn)