EDA技術與VHDL設計

第1章 EDA技術概述
1.1 EDA技術及其發(fā)展歷程
1.2 EDA技術的特征和優(yōu)勢
1.2.1 EDA技術的基本特征
1.2.2 EDA技術的優(yōu)勢
1.3 EDA設計的目標和流程
1.3.1 EDA技術的實現(xiàn)目標
1.3.2 EDA設計流程
1.3.3 數(shù)字集成電路的設計
1.3.4 模擬集成電路的設計
1.4.EDA技術與ASIC設計
1.4.1 ASIC的特點與分類
1.4.2 ASIC的設計方法
1.4.3 SoC設計
1.5 硬件描述語言
1.5.1 VHDL
1.5.2 Verilog HDL
1.5.3 ABEL.HDL
1.5.4 Verilog HDL和VHDL的比較
1.6 EDA設計工具
1.6.1 EDA設計工具分類
1.6.2 EDA公司與工具介紹
1.7 EDA技術的發(fā)展趨勢
習題1
第2章 可編程邏輯器件基礎
2.1 概述
2.1.1 可編程邏輯器件發(fā)展歷程
2.1.2 可編程邏輯器件分類
2.1.3 可編程邏輯器件的優(yōu)勢
2.1.4 可編程邏輯器件的發(fā)展趨勢
2.2 PLD器件的基本結構
2.2.1 基本結構
2.2.2 電路符號
2.2.3 PROM
2.2.4 PLA
2.2.5 PAL
2.2.6 GAL
2.3 CPLD/FPGA的結構特點
2.3.1 Lattice公司的CPLD/FPGA
2.3.2 Xilinx公司的CPLD/FPGA
2.3.3 Altera和Actel公司的CPLD/FPGA
2.3.4 CPLD和FPGA的異同
2.4 可編程邏輯器件的基本資源
2.4.1 功能單元
2.4.2 輸入-輸出焊盤
2.4.3 布線資源
2.4.4 片內(nèi)RAM
2.5 可編程邏輯器件的編程器件
2.5.1熔絲型開關
2.5.2反熔絲型開關
2.5.3浮柵編程器件
2.5.4基于SRAM的編程器件
2.6可編程邏輯器件的設計與開發(fā)
2.6.1 CPLD/FPGA設計流程
2.6.2 CPLD/FPGA開發(fā)工具
2.6.3 CPLD/FPGA的應用選擇
2.7可編程邏輯器件的測試技術
2.7.1邊界掃描測試原理
2.7.2 IEEE 1l49.1標準
2.7.3邊界掃描策略及相關工具
習題2
第3章 典型FPGA/CPLD的結構與配置
3.1 Stratix高端FPGA系列
3.1.1 Stratix器件
3.1.2 Stratix Il器件
3.2 Cyclone低成本FPGA系列
3.2.1 Cyclone器件
3.3 ACEX lK器件
3.4 典型CPLD器件
3.4.1 MAX II器件
3.4.2 MAX 7000器件
3.5 FPGA/CPLD的配置
……
第4章 原理圖與宏功能模塊設計
第5章 VHDL設計輸入方式
第6章 VHDL結構與要素
第7章 VHDL基本語句與基本設計
第8章 VHDL設計進階
第9章 數(shù)字接口實例及分析
第10章 通信算法實例及分析
附錄A EDA實驗系統(tǒng)簡介
參考文獻