材料科學(xué)研究與測(cè)試方法

　　《普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材：材料科學(xué)研究與測(cè)試方法》首先介紹了晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)，然后系統(tǒng)介紹了X射線(xiàn)的物理基礎(chǔ)、X射線(xiàn)衍射的方向與強(qiáng)度、多晶體X射線(xiàn)衍射分析的方法、x射線(xiàn)衍射儀及其在物相鑒定、宏微觀(guān)應(yīng)力與晶粒尺寸的測(cè)定、多晶體的織構(gòu)分析等方面的應(yīng)用；介紹了電子衍射的物理基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、衍射成像、運(yùn)動(dòng)學(xué)襯度理論、高分辨透射電子顯微技術(shù)、掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、電子探針及其應(yīng)用；介紹了AES、XPS、STM、LEED等常用表面分析技術(shù)和TG、DTA、DSC等常用熱分析技術(shù)的原理、特點(diǎn)及其應(yīng)用；最后簡(jiǎn)單介紹了光譜分析技術(shù)，包括原子光譜、紅外光譜、激光光譜等。書(shū)中研究和測(cè)試的材料包括金屬材料、無(wú)機(jī)非金屬材料、高分子材料、非品態(tài)材料、金屬問(wèn)化合物、復(fù)合材料等。對(duì)每章內(nèi)容作了提綱式的小結(jié)，并附有適量的思考題。書(shū)中采用了一些作者尚未發(fā)表的圖片和曲線(xiàn)，同時(shí)在實(shí)例分析中還注重引入了一些當(dāng)前材料界最新的研究成果。《普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材：材料科學(xué)研究與測(cè)試方法》是教育部評(píng)選的普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材，可作為材料科學(xué)與工程學(xué)科本科生的學(xué)習(xí)用書(shū)，也可供相關(guān)學(xué)科與專(zhuān)業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。

暫缺《材料科學(xué)研究與測(cè)試方法》作者簡(jiǎn)介