紅外檢測技術(shù)

1 紅外光譜的基本理論
　1.1 分子與分子光譜
　　1.1.1 分子的內(nèi)部運動及能級
　　1.1.2 分子紅外光譜的形成
　　1.1.3 光譜線的形狀和展寬
　1.2 大氣吸收理論
　　1.2.1 大氣組分紅外吸收光譜及其特征
　　1.2.2 大氣吸收的一般方程
　　1.2.3 單根譜線的吸收
　　1.2.4 分子吸收的帶模型計算法
　1.3 一種新的混合帶模型的確立
　　1.3.1 兩種模型的分析
　　1.3.2 混合帶模型的確立
2 紅外氣體傳感器概述
　2.1 概述
　　2.1.1 基本原理
　　2.1.2 紅外氣體傳感器的特點
　　2.1.3 紅外氣體傳感器的現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢
　2.2 紅外氣體傳感器的主要部件
　　2.2.1 紅外輻射光源
　　2.2.2 氣室、窗口材料和濾波元件
　　2.2.3 檢測器
　2.3 紅外氣體傳感器的重要特性
　　2.3.1 選擇性
　　2.3.2 調(diào)制頻率
　　2.3.3 測量氣室長度的選擇
　2.4 系統(tǒng)誤差分析
　　2.4.1 對朗伯-比爾定律的偏差
　　2.4.2 紅外電子線路的噪聲
　　2.4.3 光源的發(fā)射速率所引起的功率起伏
　　2.4.4 背景輻射的光子噪聲
　　2.4.5 干擾氣體組分吸收的干擾
　　2.4.6 鏡面塵染及光學(xué)器件磨損的影響
　2.5 紅外吸收光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計
　　2.5.1 光學(xué)系統(tǒng)的幾種設(shè)計方案
　　2.5.2 新型光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計方案
　　2.5.3 實驗及結(jié)果討論
3 紅外瓦斯檢測儀
　3.1 紅外瓦斯檢測儀的檢測原理
　3.2 礦用紅外瓦斯檢測儀的總體設(shè)計
　　3.2.1 結(jié)構(gòu)設(shè)計
　　3.2.2 功能設(shè)計
　3.3 光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計
　　3.3.1 光路設(shè)計
　　3.3.2 紅外輻射光源
　　3.3.3 探測器
　　3.3.4 氣室
　　3.3.5 紅外濾光片
　3.4 硬件電路的設(shè)計
　　3.4.1 硬件設(shè)計思想
　　3.4.2 前置放大電路
　　3.4.3 按鍵接口電路
　　3.4.4 LED顯示電路
　　3.4.5 串行E2PROM接口電路
　　3.4.6 AT24C02與單片機連接
　　3.4.7 A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路
　　3.4.8 ADS7841與單片機連接
　　3.4.9 通信接口電路
　　3.4.10 氣室溫控電路
　3.5 系統(tǒng)軟件設(shè)計
　　3.5.1 軟件設(shè)計方法
　　3.5.2 主程序設(shè)計
　　3.5.3 鍵盤接口子程序
　　3.5.4 串行存儲芯片讀寫子程序
　　3.5.5 數(shù)據(jù)處理模塊
4 系統(tǒng)設(shè)計與信號處理
5 紅外光纖瓦斯檢測系統(tǒng)
6 紅外一氧化碳檢測原理
7 紅外一氧化碳檢測器設(shè)計與實現(xiàn)
附錄一 紅外一氧化碳吸收波長λ（μｍ）與透射比τ（%）實驗數(shù)據(jù)
附錄二 紅外一氧化碳吸收波長λ（μm）與吸收截面系數(shù)k（λ）實驗計算數(shù)據(jù)
參考文獻