紅外檢測(cè)技術(shù)

1 紅外光譜的基本理論
　1.1 分子與分子光譜
　　1.1.1 分子的內(nèi)部運(yùn)動(dòng)及能級(jí)
　　1.1.2 分子紅外光譜的形成
　　1.1.3 光譜線的形狀和展寬
　1.2 大氣吸收理論
　　1.2.1 大氣組分紅外吸收光譜及其特征
　　1.2.2 大氣吸收的一般方程
　　1.2.3 單根譜線的吸收
　　1.2.4 分子吸收的帶模型計(jì)算法
　1.3 一種新的混合帶模型的確立
　　1.3.1 兩種模型的分析
　　1.3.2 混合帶模型的確立
2 紅外氣體傳感器概述
　2.1 概述
　　2.1.1 基本原理
　　2.1.2 紅外氣體傳感器的特點(diǎn)
　　2.1.3 紅外氣體傳感器的現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢(shì)
　2.2 紅外氣體傳感器的主要部件
　　2.2.1 紅外輻射光源
　　2.2.2 氣室、窗口材料和濾波元件
　　2.2.3 檢測(cè)器
　2.3 紅外氣體傳感器的重要特性
　　2.3.1 選擇性
　　2.3.2 調(diào)制頻率
　　2.3.3 測(cè)量氣室長(zhǎng)度的選擇
　2.4 系統(tǒng)誤差分析
　　2.4.1 對(duì)朗伯-比爾定律的偏差
　　2.4.2 紅外電子線路的噪聲
　　2.4.3 光源的發(fā)射速率所引起的功率起伏
　　2.4.4 背景輻射的光子噪聲
　　2.4.5 干擾氣體組分吸收的干擾
　　2.4.6 鏡面塵染及光學(xué)器件磨損的影響
　2.5 紅外吸收光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
　　2.5.1 光學(xué)系統(tǒng)的幾種設(shè)計(jì)方案
　　2.5.2 新型光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案
　　2.5.3 實(shí)驗(yàn)及結(jié)果討論
3 紅外瓦斯檢測(cè)儀
　3.1 紅外瓦斯檢測(cè)儀的檢測(cè)原理
　3.2 礦用紅外瓦斯檢測(cè)儀的總體設(shè)計(jì)
　　3.2.1 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
　　3.2.2 功能設(shè)計(jì)
　3.3 光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
　　3.3.1 光路設(shè)計(jì)
　　3.3.2 紅外輻射光源
　　3.3.3 探測(cè)器
　　3.3.4 氣室
　　3.3.5 紅外濾光片
　3.4 硬件電路的設(shè)計(jì)
　　3.4.1 硬件設(shè)計(jì)思想
　　3.4.2 前置放大電路
　　3.4.3 按鍵接口電路
　　3.4.4 LED顯示電路
　　3.4.5 串行E2PROM接口電路
　　3.4.6 AT24C02與單片機(jī)連接
　　3.4.7 A/D模數(shù)轉(zhuǎn)換電路
　　3.4.8 ADS7841與單片機(jī)連接
　　3.4.9 通信接口電路
　　3.4.10 氣室溫控電路
　3.5 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
　　3.5.1 軟件設(shè)計(jì)方法
　　3.5.2 主程序設(shè)計(jì)
　　3.5.3 鍵盤接口子程序
　　3.5.4 串行存儲(chǔ)芯片讀寫(xiě)子程序
　　3.5.5 數(shù)據(jù)處理模塊
4 系統(tǒng)設(shè)計(jì)與信號(hào)處理
5 紅外光纖瓦斯檢測(cè)系統(tǒng)
6 紅外一氧化碳檢測(cè)原理
7 紅外一氧化碳檢測(cè)器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
附錄一 紅外一氧化碳吸收波長(zhǎng)λ（μｍ）與透射比τ（%）實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
附錄二 紅外一氧化碳吸收波長(zhǎng)λ（μm）與吸收截面系數(shù)k（λ）實(shí)驗(yàn)計(jì)算數(shù)據(jù)
參考文獻(xiàn)