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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編

定　價(jià)：￥38.00

作　者： 中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版社： 中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 電工電子
ISBN： 9787506637640 出版時(shí)間： 2005-10-01 包裝： 平裝
開本： 16開 頁數(shù)： 193 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對(duì)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)和必要的著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、各項(xiàng)著火危險(xiǎn)試驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標(biāo)準(zhǔn)，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，受到讀者歡迎。1999年以來我國又陸續(xù)制修訂了電工電子環(huán)境試驗(yàn)和著火危險(xiǎn)試驗(yàn)方面的標(biāo)準(zhǔn)36項(xiàng)，截至目前為止該方面國家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)134項(xiàng)。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、運(yùn)輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分4冊(cè)陸續(xù)出版：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第三版）、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第二版）、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第二版）、《電工電子產(chǎn)品著火危險(xiǎn)試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第一版）。本冊(cè)為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第二版），共匯集了截至2005年7月底我國正式發(fā)布實(shí)施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國家標(biāo)準(zhǔn)15項(xiàng)及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗(yàn)設(shè)備的國家標(biāo)準(zhǔn)9項(xiàng)，共計(jì)24項(xiàng)。本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)（目錄中標(biāo)明GB/T），標(biāo)準(zhǔn)年號(hào)用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標(biāo)準(zhǔn)是在國家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣。標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中的標(biāo)準(zhǔn)屬性請(qǐng)讀者注意查對(duì)。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動(dòng)。

作者簡介

暫缺《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》作者簡介

圖書目錄

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB/T 5170．1—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T 5170．2—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．5—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．8—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．9—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．10—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．11—1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．13—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170．14—1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170．15—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB/T 5170．16—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
GB/T 5170．171987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．18—1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．19—1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 5170．20—1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 10586—1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10587—1989鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10588—1989長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10590—1989低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 1059]—1989 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592—1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6B/T 11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11159—1989低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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