數(shù)字電子技術(shù)（第4版）

第1章 數(shù)制
  1.1 二進(jìn)制數(shù)
  1.2 二—十進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.3 十—二進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.4 八進(jìn)制數(shù)
  1.5 二—八進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.6 八—二進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.7 十六進(jìn)制數(shù)
  1.8 二—十六進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.9 十六—二進(jìn)制數(shù)轉(zhuǎn)換
  1.10 二進(jìn)制編碼的十進(jìn)制數(shù)（BCD）
  1.11 二進(jìn)制加法
  1.12 二進(jìn)制減法
  1.13 四位加法器的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——二進(jìn)制和十六進(jìn)制數(shù)
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)1A 7483 4位全加器
  試驗(yàn)1B 4008全加器
第2章 邏輯門電路
  2.1 門
  2.2 反相器
  2.3 或門
  2.4 與門
  2.5 與非門
  2.6 或非門
  2.7 數(shù)據(jù)控制與門的開(kāi)啟／禁止
  2.8 與門的開(kāi)啟／禁止
  2.9 與非門的開(kāi)啟／禁止
  2.10 或門的開(kāi)啟／禁止
  2.11 或非門的開(kāi)啟／禁止
  2.12 門電路開(kāi)啟／禁止小結(jié)
  2.13 與非門用作反相器
  2.14 或非門用作反相器非門 
  2.15 與門的擴(kuò)充
  2.16 與非門的擴(kuò)充
  2.17 或門的擴(kuò)充
  2.18 或非門的擴(kuò)充
  2.19 門電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——門電路邏輯符號(hào)
  小結(jié)
  練習(xí)
  試驗(yàn)2A 門電路
  試驗(yàn)2B 門電路
第3章 波形和布爾代數(shù)
  3.1 波形分析
  3.2 延遲時(shí)鐘和移位計(jì)數(shù)器波形
  3.3 組合邏輯電路
  3.4 布爾定理
  3.5 德摩根定理
  3.6 邏輯電路設(shè)計(jì)
  3.7 與或非門
  3.8 使用卡諾圖化簡(jiǎn)布爾表達(dá)式
  3.9 可編程邏輯器件
  3.10 組合邏輯電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——布爾代數(shù)
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)3A 布爾代數(shù)
  試驗(yàn)3B 邏輯轉(zhuǎn)換器
第4章 異或門
  4.1 異或門
  4.2 異或門的開(kāi)啟／禁止
  4.3 異或門輸出波形
  4.4 同或門
  4.5 奇偶校驗(yàn)
  4.6 奇偶校驗(yàn)發(fā)生器
  4.7 奇／偶校驗(yàn)發(fā)生器
  4.8 校驗(yàn)器
  4.9 9位校驗(yàn)發(fā)生器／校驗(yàn)器
  4.10 比較器
  4.11 可編程邏輯器件
  4.12 異或門電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——奇偶校驗(yàn)
  小結(jié)
  練習(xí)
  試驗(yàn)4A 異或門
  試驗(yàn)4B 奇偶發(fā)生器／校驗(yàn)器
第5章 加法器
  5.1 半加器
  5.2 全加器
  5.3 二進(jìn)制反碼減法
  5.4 反碼加法／減法電路
  5.5 二進(jìn)制數(shù)的補(bǔ)碼減法
  5.6 基于補(bǔ)碼的加法器／減法器電路
  5.7 帶符號(hào)的補(bǔ)數(shù)
  5.8 二—十進(jìn)制數(shù)加法
  5.9 二—十進(jìn)制數(shù)加法電路
  5.10 算術(shù)邏輯單元
  5.11 通用陣列邏輯器件的編程
  5.12 加法器電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——浮點(diǎn)單元（FPU）
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)5A 加法器
  試驗(yàn)5B 加法器電路
第6章 集電極開(kāi)路門電路及技術(shù)參數(shù)
  6.1 TTL門電路
  6.2 TTL門電路特性
  6.3 TTL供電電流
  6.4 TTL集成電路的開(kāi)關(guān)特性
  6.5 TTL集電極開(kāi)路門電路
  6.6 集電極開(kāi)路門電路應(yīng)用
  6.7 CMOS集成電路
  6.8 CMOS系列集成電路
  6.9 CMOS系列集成電路的技術(shù)參數(shù)
  6.10 TTL和CMOS集成電路的接口
  6.11 低電壓CMOS集成電路
  6.12 發(fā)射極耦合邏輯電路（ECL）
  6.13 ECL和其他門電路的接日
  6.14 表面組裝技術(shù)
  6.15 GAL技術(shù)參數(shù)
  6.16 TTL和CMOS集成電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——交錯(cuò)引腳格柵陣列
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)6A 集電極開(kāi)路門電路及技術(shù)參數(shù)
  試驗(yàn)6B 漏極開(kāi)路反相器及技術(shù)參數(shù)
第7章 觸發(fā)器
  7.1 觸發(fā)器簡(jiǎn)介
  7.2 交叉RS與非門觸發(fā)器
  7.3 交叉或非門觸發(fā)器
  7.4 交叉RS與非門和交叉RS或非門觸發(fā)器的比較
  7.5 使用交叉RS與非門觸發(fā)器設(shè)計(jì)除顫開(kāi)關(guān)
  7.6 鐘控RS與非門觸發(fā)器
  7.7 D觸發(fā)器
  7.8 主從D觸發(fā)器
  7.9 脈沖邊緣D觸發(fā)器
  7.10 使用PLD設(shè)計(jì)RS與非門觸發(fā)器
  7.11 數(shù)字電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——機(jī)械觸發(fā)器
  小結(jié) 
  練習(xí)題
  試驗(yàn)7A 觸發(fā)器
  試驗(yàn)7B 觸發(fā)器
第8章 主從D觸發(fā)器和JK觸發(fā)器
  8.1 主從D觸發(fā)器的翻轉(zhuǎn)
  8.2 JK觸反器
  8.3 非重疊時(shí)鐘
  8.4 移位計(jì)數(shù)器
  8.5 典型JK觸發(fā)器集成電路
  8.6 設(shè)計(jì)非重疊時(shí)鐘發(fā)生器
  8.7 JK觸發(fā)器的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——絕緣門極性晶體管橋電路
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)8A 移位計(jì)數(shù)器和非重疊時(shí)鐘
  試驗(yàn)8B JK觸發(fā)器
第9章 移位寄存器
  9.1 用JK觸發(fā)器設(shè)計(jì)移位寄存器
  9.2 串行和并行數(shù)據(jù)
  9.3 并行輸入串行輸出
  9.4 串行數(shù)據(jù)格式
  9.5 移位寄存器常用集成電路
  9.6 串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
  9.7 ASCll碼
  9.8 使用GAL設(shè)計(jì)8位移位寄存器
  9.9 RS－232接口電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——使用1489集成電路進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)9A 移位寄存器
  試驗(yàn)9B 移位寄存器
第10章 計(jì)數(shù)器
  10.1異步計(jì)數(shù)器
  10.2 依靠譯碼和清零實(shí)現(xiàn)N分頻計(jì)數(shù)器
  10.3 N分頻同步計(jì)數(shù)器
  10.4 可預(yù)置計(jì)數(shù)器
  10.5 遞加／遞減計(jì)數(shù)器
  10.6 典型計(jì)數(shù)器集成電路
  10.7 N 1／2分頻計(jì)數(shù)器
  10.8 使用PLD器件設(shè)計(jì)16分頻同步計(jì)數(shù)器
  10.9 計(jì)數(shù)器故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——可編程計(jì)數(shù)器
  小結(jié)
  練習(xí)
  試驗(yàn)10A 計(jì)數(shù)器
  試驗(yàn)10B 計(jì)數(shù)器
第11章 施密特觸發(fā)器和時(shí)鐘
  11.1 施密特觸發(fā)器
  11.2 使用施密特觸發(fā)器產(chǎn)生方波
  11.3 施密特時(shí)鐘發(fā)生器
  11.4 555時(shí)鐘發(fā)生器
  11.5 晶體振蕩器
  11.6 時(shí)鐘電路的故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——施密特觸發(fā)器時(shí)鐘
  小結(jié) 
  練習(xí)題
  試驗(yàn)11A 施密特觸發(fā)器和時(shí)鐘
  試驗(yàn)11B 時(shí)鐘
第12章 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
  12.1 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器除顫開(kāi)關(guān)
  12.2 脈沖延伸器
  12.3 可重觸發(fā)單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
  12.4 非可重觸發(fā)單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
  12.5 555用作單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
  12.6 74121和74LS122集成電路
  12.7 數(shù)據(jù)分離器
  12.8 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——脈沖伸延器
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)12A 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
  試驗(yàn)12B 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
第13章 模／數(shù)轉(zhuǎn)換與數(shù)／模轉(zhuǎn)換
  13.1 電阻網(wǎng)絡(luò)數(shù)／模轉(zhuǎn)換器
  13.2 TTL數(shù)／模轉(zhuǎn)換器
  13.3 電壓比較器模／數(shù)轉(zhuǎn)換器
  13.4 計(jì)數(shù)比較模／數(shù)轉(zhuǎn)換器
  13.5 連續(xù)逼近模／數(shù)轉(zhuǎn)換器
  13.6 DAC0803數(shù)／模轉(zhuǎn)換集成電路
  13.7 使用GAL實(shí)現(xiàn)模／數(shù)轉(zhuǎn)換器中譯碼器電路
  13.8 數(shù)／模轉(zhuǎn)換器故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——數(shù)／模轉(zhuǎn)換器
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)13A 模／數(shù)轉(zhuǎn)換與數(shù)／模轉(zhuǎn)換
  試驗(yàn)13B 模／數(shù)轉(zhuǎn)換
第14章 譯碼器、多路復(fù)用器、多路選擇器和顯示器
  14.1 譯碼器
  14.2 多路選擇器
  14.3 多路復(fù)用器
  14.4 使用多路復(fù)用器實(shí)現(xiàn)真值表
  14.5 典型多路復(fù)用器和多路選擇器集成電路
  14.6 數(shù)字8通道示波儀復(fù)用器
  14.7 發(fā)光二極管
  14.8 七段顯示器
  14.9 液晶顯示器
  14.10 使用GAL16V8B設(shè)計(jì)3－8譯碼器
  14.11 譯碼器故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——68HC11微控制器串行通信譯碼器
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)14A 多路復(fù)用器、發(fā)光二極管和七段顯示器
  試驗(yàn)14B 發(fā)光二極管
第15章 三態(tài)門和大電流電路接口
  15.1 三態(tài)門
  15.2 三態(tài)門反相器和緩沖器
  15.3 計(jì)算機(jī)總線和三態(tài)門 
  15.4 大電流／高電壓電路接口
  15.5 七段發(fā)光二極管顯示器復(fù)用器
  15.6 使用光電耦合器隔離電路
  15.7 絕緣門雙極性三極管
  15.8 大電流數(shù)字電路故障診斷
  數(shù)字電路應(yīng)用——光電耦合器的應(yīng)用
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試 驗(yàn)15A 三態(tài)門
 試驗(yàn)15B 大電流接口電路
第16章 存儲(chǔ)器和微型計(jì)算機(jī)
  16.1 微型計(jì)算機(jī)及其組成
  16.2 中央處理器
  16.3 存儲(chǔ)器
  16.4 只讀存儲(chǔ)器
  16.5 可編程只讀存儲(chǔ)器
  16.6 電可編程只讀存儲(chǔ)器
  16.7 電可擦除只讀存儲(chǔ)器
  16.8 靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
  16.9 動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
  16.10 計(jì)算機(jī)的輸入和輸出
  16.11 程序
  16.12 微型控制器
  數(shù)字電路應(yīng)用——68HC711E9微型控制器應(yīng)用
  小結(jié)
  練習(xí)題
  試驗(yàn)16 隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
附錄A 試驗(yàn)培訓(xùn)計(jì)劃
附錄B 試驗(yàn)設(shè)備
附錄C 常用集成電路引腳排列
附錄D 與非門、MOS和CMOS電路
附錄E 術(shù)語(yǔ)表
附錄F 自我檢查及部分練習(xí)題解答