現(xiàn)代集成電路測試技術

上篇　集成電路測試原理
第1章　概述
1.1　測試的意義
1.2　測試的分類
1.3　測試成本與產品質量
參考文獻
第2章　邏輯模擬與故障模擬
2.1　電路模型及簡單的結構分析
2.2　信號狀態(tài)模型
2.3　定時模型
2.4　故障模型及故障精簡
2.5　故障效應的傳播
2.6　邏輯模擬算法
2.7　故障模擬算法
2.8　時序電路的邏輯模擬和故障模擬
參考文獻
第3章　可測性度量
3.1　可測性度量的基本概念
3.2　可測性的度量
參考文獻
第4章　測試生成
4.1　測試生成方法分類
4.2　測試生成算法中的一些基本概念和技術
4.3　單路徑敏化法
4.4　D-算法
4.5　9值算法
4.6　PODEM算法
4.7　FAN算法
4.8　布爾差分法
4.9　布爾滿足法
4.1 0　面向電路的測試生成方法
4.1 1　組合ATPG算法研究進展
4.1 2　時序電路測試生成
4.1 3　高層設計的測試生成
4.1 4　測試生成系統(tǒng)
參考文獻
第5章　可測性設計方法和技術
5.1　可測性設計的基本概念
5.2　專門的可測性設計方法
5.3　基于掃描的可測性設計技術
5.4　全速測試和全速掃描測試技術
5.5　特征分析測試方法簡介及內建自測試
5.6　邊界掃描設計技術一
5.7　可測性設計規(guī)則綜述
參考文獻
第6章　設計驗證技術
6.1　設計驗證技術基本概念
6.2　設計的模擬驗證
6.3　設計的形式驗證和斷言驗證
6.4　設計驗證輔助功能測試向量的制成
6.5　現(xiàn)代數(shù)字集成電路芯片設計驗證的語言
參考文獻
第7章　測試數(shù)據壓縮技術
7.1　測試數(shù)據壓縮的緣由、特點和方法概述
7.2　Huffman編碼
7.3　游程編碼的方法
7.4　Golomb碼的數(shù)學基礎和數(shù)據壓縮
7.5　快速編碼的優(yōu)勢和特點
7.6　二維壓縮編碼方法的基本實踐
7.7　數(shù)據壓縮的硬件實施方法和措施
參考文獻
第8章　測試開發(fā)系統(tǒng)
8.1　測試語言
8.2　測試程序
8.3　測試開發(fā)環(huán)境
8.4　測試轉換系統(tǒng)
8.5　測試設備脫機開發(fā)環(huán)境
參考文獻
第9章　混合信號集成電路測試
9.1　概況
9.2　采樣理論
9.3　基于DSP的測試
9.4　基于模型的測試
9.5　DAC測試
9.6　ADC測試
9.7　混合信號DFT和BIST
參考文獻
第10章　IDDQ測試
10.1　IDDQ基本原理
10.2　IDDQ測試生成
10.3　IDDQ可測性設計
10.4　IDDQ監(jiān)控器設計
10.5　△IDDQ測試
10.6　深亞微米IDDQ測試
10.7　未來方向
參考文獻
第1l章　SOC測試
11.1　概況
11.2　SOC測試困難
11.3　測試訪問機制
11.4　測試外殼
11.5　內核測試
11.6　SOC系統(tǒng)測試
11.7　測試標準
11.8　內核測試語言
11.9　未來的挑戰(zhàn)
參考文獻
第12章　集成電路測試標準
12.1　集成電路相關標準機構
12.2　國際集成電路測試標準介紹
下篇　集成電路測試設備
第13章　集成電路測試系統(tǒng)概述
13.1　集成電路測試系統(tǒng)發(fā)展概述
13.2　集成電路測試系統(tǒng)分類
13.3　集成電路測試系統(tǒng)專用集成電路
13.4　分布式集成電路測試系統(tǒng)
參考文獻
第14章　集成電路測試驗證系統(tǒng)
14.1　集成電路測試驗證要求和測試驗證系統(tǒng)發(fā)展
14.2　第1代測試驗證手段和系統(tǒng)
14.3　第2代測試驗證系統(tǒng)的構成
14.4　第3代測試驗證系統(tǒng)的特點
14.5　現(xiàn)代測試驗證系統(tǒng)的要求和特點
參考文獻
第15章　數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)
15.1　數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)原理
15.2　數(shù)字SSI／MSI測試系統(tǒng)
15.3　數(shù)字LSI／VLSI測試系統(tǒng)
參考文獻
第16章　RAM測試技術和測試系統(tǒng)
16.1　RAM的基本組成及結構
16.2　RAM測試
16.3　RAM測試系統(tǒng)
參考文獻
第17章　模擬集成電路測試系統(tǒng)
17.1　模擬電路的測試需求
17.2　模擬電路測試系統(tǒng)的系統(tǒng)結構
17.3　模擬測試系統(tǒng)儀器構成原理
17.4　現(xiàn)代模擬集成電路測試系統(tǒng)
參考文獻
第18章　數(shù)模混合信號集成電路測試系統(tǒng)
18.1　混合信號電路對測試的需求
18.2　混合信號電路測試系統(tǒng)的體系結構
18.3　混合信號電路測試系統(tǒng)的同步
18.4　混合信號測試的特殊儀器
18.5　混合信號電路測試系統(tǒng)
第19章　基于標準總線的集成電路測試系統(tǒng)
19.1　基于標準總線的集成電路測試系統(tǒng)發(fā)展
19.2　虛擬儀器
19.3　自動測試系統(tǒng)軟件體系結構
19.4　基于標準總線的通用集成電路測試系統(tǒng)舉例
參考文獻
第20章　基于DFT測試儀
20.1　傳統(tǒng)ATE
20.2　DFT測試儀
20.3　測試方法
20.4　DFT測試應用
20.5　DFT測試儀與傳統(tǒng)ATE區(qū)別
20.6　一種邊界掃描DFT測試系統(tǒng)--JTAG
參考文獻
第21章　SOC測試系統(tǒng)
21.1　SOC測試特性
21.2　SOC測試系統(tǒng)特性
21.3　SOC測試系統(tǒng)
參考文獻
第22章　集成電路測試系統(tǒng)的計量
22.1　量值溯源基礎
22.2　集成電路測試系統(tǒng)校準與參數(shù)溯源的基礎原理
22.3　集成電路測試系統(tǒng)校準與參數(shù)溯源方法介紹
22.4　集成電路測試系統(tǒng)國家校準規(guī)程
參考文獻
第23章　集成電路測試輔助設備
23.1　自動分選機
23.2　探針測試臺
參考文獻
索引