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幾何量公差與檢測(cè)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)

幾何量公差與檢測(cè)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)

定　價(jià)：￥11.00

作　者： 甘永立主編
出版社： 上?？茖W(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 機(jī)械元件
ISBN： 9787532374236 出版時(shí)間： 2004-01-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 102頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　該書(shū)分為幾何量測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)、線性尺寸測(cè)量、表面粗糙度輪廓幅度參數(shù)測(cè)量等八章，共包含有20個(gè)單項(xiàng)測(cè)量實(shí)驗(yàn)，兩個(gè)零件精度綜合性檢測(cè)實(shí)驗(yàn)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《幾何量公差與檢測(cè)實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)》作者簡(jiǎn)介

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