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近代分析測(cè)試技術(shù)（研究生用教材）

近代分析測(cè)試技術(shù)（研究生用教材）

定　價(jià)：￥30.00

作　者： 李占雙，景曉燕主編
出版社： 哈爾濱工程大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 儀器分析

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ISBN： 9787810736350 出版時(shí)間： 2005-03-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 23cm 頁(yè)數(shù)： 391 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書內(nèi)容包括：光譜分析、X射線衍射分析、質(zhì)譜分析、色譜分析、透射電子顯微鏡、氣相色譜法、原子發(fā)射光譜分析、核磁共振波譜等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《近代分析測(cè)試技術(shù)（研究生用教材）》作者簡(jiǎn)介

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