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原子探針顯微分析：原理和應(yīng)用

原子探針顯微分析：原理和應(yīng)用

定　價(jià)：￥28.00

作　者： （美）米勒（Miller，MichaelK.），（英）史密斯（Smith，GeorgeD.W.）著；鞏運(yùn)明，沙維譯
出版社： 北京大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 離子微探針分析
ISBN： 9787301022603 出版時(shí)間： 1993-11-01 包裝：
開本： 20cm 頁數(shù)： 279頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　介紹場離子顯微鏡和原子探針在原子級材料科學(xué)研究技術(shù)中的應(yīng)用，敘述了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理、分析和科學(xué)解釋。

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