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掃描電子顯微技術與X射線顯微分析

掃描電子顯微技術與X射線顯微分析

定　價：￥15.40

作　者： （美）J.I.戈爾茨坦（J.I.Goldstein）等著；張大同譯
出版社： 科學出版社
叢編項：
標　簽： 掃描電子顯微術 X射線顯微術
ISBN： 9787030004680 出版時間： 1988-08-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 454頁 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書介紹了掃描電子顯微技術和電子探針顯微分析的原理、儀器結(jié)構(gòu)、實驗方法、圖象與化學成分分析，以及在固體和生物材料中的應用。

作者簡介

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