材料分析方法

前言
第一篇 材料X射線衍射分析
第一章 X射線物理學(xué)基礎(chǔ)
第一節(jié) X射線的本質(zhì)
第二節(jié) X射線的產(chǎn)生及X射線譜
第三節(jié) X射線與物質(zhì)的相互作用
習(xí)題
第二章 X射線衍射方向
第一節(jié) 幾何晶體學(xué)簡(jiǎn)介
第二節(jié) 布喇格方程
第三節(jié) 獲得衍射花樣的方法簡(jiǎn)介
習(xí)題
第三章 X射線衍射強(qiáng)度
第一節(jié) 多晶體衍射圖相的形成
第二節(jié) 單位晶胞對(duì)X射線的散射與結(jié)構(gòu)因數(shù)
第三節(jié) 羅倫茲因數(shù)
第四節(jié) 影響衍射強(qiáng)度的其它因數(shù)
第五節(jié) 多晶體衍射的積分強(qiáng)度公式
習(xí)題
第四章 多晶體分析方法
第一節(jié) 德拜－謝樂(lè)法
第二節(jié) 其它照明法簡(jiǎn)介
第三節(jié) X射線衍射儀
習(xí)題
第五章 物相分析及點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)定
第一節(jié) 定性分析
第二節(jié) 定量分析
第三節(jié) 點(diǎn)陣參數(shù)的精確測(cè)定
第四節(jié) 非晶態(tài)物質(zhì)及其晶化過(guò)程的X射線衍射分析
習(xí)題
第六章 宏觀殘余應(yīng)力的測(cè)定
第一節(jié) 物體內(nèi)應(yīng)力的產(chǎn)生與分類(lèi)
第二節(jié) X射線宏觀應(yīng)力測(cè)定的基本原理
第三節(jié) 宏觀應(yīng)力測(cè)定方法
第四節(jié) X射線宏觀應(yīng)力測(cè)定中的一些問(wèn)題
習(xí)題
第二篇 材料電子顯微分析
第七章 電子光學(xué)基礎(chǔ)
第一節(jié) 電子波與電磁透鏡
第二節(jié) 電磁透鏡的像差與分辨本領(lǐng)
第三節(jié) 電磁透鏡的景深和焦長(zhǎng)
習(xí)題
第八章 透視電子顯微鏡
第一節(jié) 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理
第二節(jié) 主要部件的結(jié)構(gòu)與工作原理
第三節(jié) 透射電子顯微鏡分辨本領(lǐng)和放大倍數(shù)的測(cè)定
習(xí)題
第九章 電子衍射
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 電子衍射原理
第三節(jié) 電子顯微鏡中的電子衍射
第四節(jié) 單晶體電子衍射花樣標(biāo)定
第五節(jié) 復(fù)雜電子衍射花樣
習(xí)題
第十章 晶體薄膜衍襯成像分析
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 薄膜樣品的制備
第三節(jié) 衍襯成像原理
第四節(jié) 消光距離
第五節(jié) 衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)簡(jiǎn)介
第六節(jié) 晶體缺陷分析
習(xí)題
第十一章 掃描電子顯微鏡
第一節(jié) 電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號(hào)
第二節(jié) 掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理
第三節(jié) 掃描電子顯微鏡的主要性能
第四節(jié) 表面形貌襯度原理及其應(yīng)用
第五節(jié) 原子序數(shù)襯度原理及其應(yīng)用
習(xí)題
第十二章 電子探針顯微分析
第一節(jié) 電子探針儀的結(jié)構(gòu)與工作原理
第二節(jié) 電子探針儀的分析方法及應(yīng)用
習(xí)題
第十三章 其它顯微分析方法簡(jiǎn)介
第一節(jié) 離子探針
第二節(jié) 低能電子衍射
第三節(jié) 俄歇電子能譜儀
第四節(jié) 場(chǎng)離子顯微鏡
第五節(jié) 掃描隧道顯微鏡（STM）與原子力顯微鏡（AFM）
第六節(jié) X射線光電子能譜儀
習(xí)題
第三篇 材料物理性能分析
第十四章 熱學(xué)性能分析
第一節(jié) 熱焓與熱容
第二節(jié) 影響熱容的因素
第三節(jié) 熱焓與比熱容的測(cè)量
第四節(jié) 熱分析的應(yīng)用
習(xí)題
第十五章 膨脹分析
第一節(jié) 材料的熱膨脹及熱膨脹系數(shù)
第二節(jié) 影響熱膨脹性能的因素
第三節(jié) 膨脹的測(cè)量
第四節(jié) 膨脹分析的應(yīng)用
習(xí)題
第十六章 電阻分析
第一節(jié) 金屬的導(dǎo)電性
第二節(jié) 影響電阻的因素
第三節(jié) 電阻的測(cè)量
第四節(jié) 電阻分析的應(yīng)用
習(xí)題
第十七章 磁性分析
第一節(jié) 磁性的基本概念及基本量
第二節(jié) 抗磁性與順磁性
第三節(jié) 鐵磁性
第四節(jié) 影響鐵磁性的因素
第五節(jié) 鐵磁性的測(cè)量
第六節(jié) 鐵磁分析的應(yīng)用
習(xí)題
第十八章 核物理方法及其應(yīng)用
第一節(jié) 原子核的組成與性質(zhì)
第二節(jié) 放射性衰變與放射性同位素的應(yīng)用
第三節(jié) 穆斯堡爾效應(yīng)及其應(yīng)用
第四節(jié) 核磁共振及其應(yīng)用
第五節(jié) 正電子湮沒(méi)及其應(yīng)用
第六節(jié) 中子散射及其應(yīng)用
習(xí)題
實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)
實(shí)驗(yàn)一 單相立方系物質(zhì)X射線粉末相計(jì)算
實(shí)驗(yàn)二 用X射衍射儀進(jìn)行多晶體物質(zhì)的相分析
實(shí)驗(yàn)三 宏觀殘余應(yīng)力的測(cè)定
實(shí)驗(yàn)四 透射電鏡結(jié)構(gòu)原理及明暗場(chǎng)成像
實(shí)驗(yàn)五 選區(qū)電子衍射與晶體取向分析
實(shí)驗(yàn)六 掃描電鏡的結(jié)構(gòu)原理及圖像襯度觀察
實(shí)驗(yàn)七 電子探針結(jié)構(gòu)原理及分析方法
實(shí)驗(yàn)八 用DTA和DSC研究碳鋼回火過(guò)程的轉(zhuǎn)變
實(shí)驗(yàn)九 膨脹法測(cè)量鋼的相變點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)十 磁性法測(cè)量淬火鋼中的殘余奧氏體量
附錄
附錄A 物理常數(shù)
附錄B 質(zhì)量吸收系數(shù)μι/ρ
附錄C 原子散射因數(shù)f
附錄D 各種點(diǎn)陣的結(jié)構(gòu)因數(shù)F2HKL
附錄E 粉末法的多重性因數(shù)Phkl
附錄F 常見(jiàn)晶體標(biāo)準(zhǔn)電子衍射花樣
附錄G 特征X射線的波長(zhǎng)和能量表
附錄H 立方與六方晶體可能出現(xiàn)的反射
參考文獻(xiàn)