納米器件空間輻射效應(yīng)

　　航天器運(yùn)行所處的宇宙空間環(huán)境中存在大量射線(xiàn)粒子，這些粒子會(huì)在航天器電子器件中產(chǎn)生空間輻射效應(yīng)，導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能下降、狀態(tài)改變，甚至功能失效，影響航天器使用壽命及在軌可靠運(yùn)行。航天器功能和性能要求越來(lái)越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗納米電子器件的空間應(yīng)用前景廣闊。納米器件趨于物理極限的材料、工藝和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)對(duì)空間輻射效應(yīng)產(chǎn)生顯著影響。本書(shū)主要介紹納米器件空間輻射效應(yīng)基本概念和研究現(xiàn)狀、納米器件所用材料的輻射損傷微觀(guān)表征、納米器件空間輻射效應(yīng)新機(jī)理及可靠性、輻射損傷在納米電路中的傳播機(jī)制和加固方法、空間輻射效應(yīng)重離子模擬試驗(yàn)技術(shù)等內(nèi)容。

　　主持國(guó)家自然科學(xué)基金重大項(xiàng)目，納米器件輻射效應(yīng)機(jī)理及模擬試驗(yàn)關(guān)鍵技術(shù)