X射線分析方法

　　本書(shū)介紹X射線物理學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射方向和衍射強(qiáng)度、多晶體X射線衍射分析等基本理論知識(shí)，在此基礎(chǔ)上介紹當(dāng)前科學(xué)研究中經(jīng)常使用的各種X射線技術(shù)，包括利用X射線衍射技術(shù)分析材料的物相、殘余應(yīng)力、晶粒尺寸、位錯(cuò)密度、織構(gòu)等，以及利用X射線光電子能譜分析材料表面元素種類、含量。此外，本書(shū)還介紹了近年來(lái)基于電子計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)發(fā)展起來(lái)的三維X射線顯微鏡分析方法。

　　俄羅斯科學(xué)院外籍院士，兼任中國(guó)材料研究學(xué)會(huì)鎂合金分會(huì)理事、中國(guó)鎂合金青年委員會(huì)主任。