近代物理實驗教程（第三版）

前言
第二版前言
版序
版前言
單元0 誤差分析與數(shù)據(jù)處理
0.1 測量誤差和不確定度概念
0.2 隨機變量的概率分布
0.3 隨機誤差的統(tǒng)計分析
0.4 實驗結(jié)果的不確定度
0.5 分布規(guī)律的χ2檢驗
0.6 小二乘擬合
0.7 系統(tǒng)誤差的限制和消除
單元1 原子物理
1.1 弗蘭克-赫茲實驗
1.2 鈉原子光譜
1.3 密立根油滴實驗
1.4 塞曼效應(yīng)
1.5 拉曼光譜
1.6 氫與氘原子光譜
單元2 原子核物理
2.0 核物理實驗技術(shù)基礎(chǔ)知識
2.1 蓋革-米勒計數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計規(guī)律
2.2 γ能譜的測量
2.3 符合測量
2.4 用快速電子驗證相對論效應(yīng)
2.5 利用γ射線測量材料的吸收系數(shù)和厚度
單元3 激光、光信息處理和光學測量
3.1 He-Ne激光器特性及其參數(shù)的測量
3.2 He-Ne激光器縱模間隔測量
3.3 全息技術(shù)
3.4 光學信息處理
3.5 橢圓偏振法測量薄膜厚度、折射率和金屬復(fù)折射率
3.6 光拍頻法測量光的速度
3.7 各向異性晶體光學性質(zhì)的觀測和研究
3.8 拉曼-奈斯型聲光衍射效應(yīng)
3.9 光學自成像實驗
單元4 真空技術(shù)
4.1 高真空的獲得與測量
4.2 真空鍍膜
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒
4.4 等離子體特性和參數(shù)測量
單元5 X射線衍射技術(shù)
5.0 X射線衍射的基礎(chǔ)知識
5.1 立方晶系點陣常數(shù)的測定
5.2 勞厄相法測定單晶取向
單元6 低溫和固體物理
6.0 低溫基礎(chǔ)知識
6.1 電阻溫度關(guān)系和減壓降溫技術(shù)
6.2 高溫超導體基本特性的測量
6.3 用電容-電壓法測半導體雜質(zhì)濃度分布