液晶器件的電調(diào)波譜成像探測技術

定　價：￥169.00

作　者：	張新宇，劉侃，陳明策著
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項：	現(xiàn)代微納光學光電成像探測技術叢書
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118123654	出版時間：	2021-10-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	229	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　《液晶器件的電調(diào)波譜成像探測技術》主要論述了電控液晶微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)及電控液晶聚光調(diào)焦微鏡的設計、工藝制作、測試、評估的方法和關鍵技術，建立了電控液晶微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)在建模、仿真、測試分析等方面的基本結(jié)構(gòu)和參數(shù)體系，詳細介紹了通過電控液晶微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)獲取有效波普成分、譜圖像細節(jié)等成像信息的方法與應用。

作者簡介

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圖書目錄

第1章電控液晶微鏡技術概述
1．1 功能化液晶材料發(fā)展現(xiàn)狀
1．2 電控液晶微鏡
第2章電控液晶可見光微腔干涉濾光成像探測
2．1 液晶基微腔干涉濾光
2．2 建模與仿真
2．3 液晶層中的空間電場
2．4 微腔中的液晶指向矢分布與光學屬性
2．5 級聯(lián)LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)
2．6 液晶基LC-FP工藝流程
2．7 可見光LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)測試與評估
2．8 小結(jié)
第3章液晶基電選電調(diào)紅外波譜成像探測
3．1 紅外LC-FP微腔干涉濾光
3．2 電控LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)建模與仿真
3．3 紅外LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)設計
3．4 工藝制作、性能測試與評估
3．5 紅外LC-FP微腔干涉濾光原理芯片測試與分析
3．6 電控紅外譜成像探測
3．7 小結(jié)
第4章高譜透射率LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)與紅外譜成像探測
4．1 高紅外譜透射率LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)建模與仿真
4．2 紅外LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)工藝制作
4．3 電控干涉濾光特征
4．4 級聯(lián)LC-FP微腔干涉濾光結(jié)構(gòu)紅外成像波譜特性
4．5 小結(jié)
第5章一體化微腔干涉濾光與液晶微鏡聚光調(diào)焦
5．1 復合微腔干涉濾光與電控液晶微鏡聚光調(diào)焦
5．2 用于多模成像的液晶基電控聚焦與調(diào)焦
5．3 液晶基微腔干涉濾光與聚光調(diào)焦復合芯片
5．4 紅外光學特性測試與評估
5．5 小結(jié)
參考文獻