化學(xué)鍵的弛豫

　　本書從成鍵與非鍵的形成、斷裂、弛豫、振動以及相應(yīng)的電子遷移、極化、局域化、致密化動力學(xué)角度出發(fā)，旨在揭示固體表面化學(xué)吸附、異質(zhì)界面、拓撲缺陷、低維結(jié)構(gòu)等非常規(guī)配位體系的各種物理化學(xué)性能的微觀起源及其在外場作用下的演化規(guī)律。著重介紹了鍵弛豫理論、電子能量局域釘扎極化理論、局域鍵平均近似原理和數(shù)值算法、計量譜學(xué)實驗以及定量信息提取技術(shù)及其應(yīng)用。　本書第一篇專注于化學(xué)吸附過程中化學(xué)鍵-能帶-勢壘的弛豫動力學(xué)；第二篇主攻低配位體系的反常力學(xué)強度、熱穩(wěn)定性、聲子激發(fā)、光發(fā)射與吸收、電子的釘扎與極化、磁性與介電等物性；第三篇主要闡述原子尺度單鍵固體力學(xué)，包括單原子鏈、單層原子片、納米孔洞、異質(zhì)界面等體系，在受熱、受力條件下的彈性與塑性力學(xué)行為。　本書強調(diào)原理和概念，力求表述簡單。全書自成體系、風(fēng)格獨特，貫穿原創(chuàng)性、深入性、關(guān)聯(lián)性和系統(tǒng)性于始終。可作為材料、物理、化學(xué)、力學(xué)、表面與界面、納米科學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域的教學(xué)和科研參考。

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