負(fù)折射光子晶體的基礎(chǔ)研究

第1章 緒 論
1.1 負(fù)折射材料的研究現(xiàn)狀
1.1.1 負(fù)折射材料的反常特性
1.1.2 負(fù)折射現(xiàn)象的實驗表征方法
1.1.3 負(fù)折射材料的實驗研究進(jìn)展
1.2 本書的選題背景及意義
1.3 本書的內(nèi)容安排
1.4 本書的特色

第2章 光子晶體的基本理論及RS0ft仿真
2.1 光子晶體的基本知識
2.1.1 光子晶體的概念
2.1.2 光子晶體的分類
2.1.3 光子晶體的基本特性
2.2 光子晶體的理論研究方法
2.2.1 平面波展開法
2.2.2 時域有限差分法
2.3 RSoft軟件仿真光子晶體的過程
2.3.1 RS0ft仿真軟件簡介
2.3.2 光子晶體波導(dǎo)仿真過程
2.4 本章小結(jié)

第3章 二維負(fù)折射光子晶體樣品設(shè)計及組件制作
3.1 實驗用二維負(fù)折射光子晶體樣品的設(shè)計
3.1.1 負(fù)折射光子晶體的理論設(shè)計依據(jù)
3.1.2 實驗用二維負(fù)折射光子晶體樣品的理論設(shè)計過程
3.2 二維負(fù)折射光子晶體樣品的制備
3.3 實驗用光子晶體組件的制作
3.4 本章小結(jié)

第4章 光子晶體反常Doppler效應(yīng)實驗平臺的設(shè)計
4.1 Doppler效應(yīng)原理及應(yīng)用
4.2 反常Doppler效應(yīng)實驗的光路設(shè)計原理
4.2.1 馬赫一曾德爾干涉儀原理
4.2.2 光路設(shè)計原理（從Dopplel效應(yīng)的角度分析）
4.2.3 光路設(shè)計原理（從光程的角度分析）
4.3 實驗系統(tǒng)所需裝置
4.3.1 光路系統(tǒng)
4.3.2 掃描控制系統(tǒng)
4.3.3 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
4.4 實驗控制程序的總體設(shè)計方案
4.5 本章小結(jié)

第5章 負(fù)折射光子晶體反常Doppler效應(yīng)的實驗驗證
5.1 正常Doppler效應(yīng)實驗
5.1.1 正常Doppler效應(yīng)實驗系統(tǒng)
5.1.2 632.8nm波長的正常Doppler效應(yīng)實驗結(jié)果
5.1.3 10600nm波長的正常Doppler效應(yīng)實驗結(jié)果
5.1.4 不同電機(jī)驅(qū)動的電移臺的實驗測試
5.2 光子晶體的負(fù)折射實驗結(jié)果
5.3 負(fù)折射光子晶體的反常D0ppler效應(yīng)實驗
5.3.1 光子晶體反常Doppler效應(yīng)實驗結(jié)果
5.3.2 光子晶體反常Doppler效應(yīng)實驗的問題討論
5.4 本章小結(jié)

第6章 總結(jié)及展望
參考文獻(xiàn)
致謝