漢語(yǔ)測(cè)試與句法研究探微

定　價(jià)：￥18.00

作　者：	李桂梅著
出版社：	北京語(yǔ)言大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	對(duì)外漢語(yǔ)

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ISBN：	9787561930342	出版時(shí)間：	2011-06-01	包裝：	平裝
開本：	大32開	頁(yè)數(shù)：	138	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　語(yǔ)言測(cè)試的主要目的是對(duì)被試的語(yǔ)言能力作出準(zhǔn)確、公正的測(cè)量。由此必然涉及兩個(gè)問題：一是對(duì)語(yǔ)言能力的界定，它決定語(yǔ)言測(cè)試要測(cè)什么。對(duì)語(yǔ)言能力的不同認(rèn)識(shí)直接影響著第二語(yǔ)言測(cè)試，每一次語(yǔ)言觀的重大改革都會(huì)帶動(dòng)第二語(yǔ)言測(cè)試發(fā)生相應(yīng)的變革。二是如何測(cè)的問題，語(yǔ)言測(cè)試主要是一種心理測(cè)試，我們無法直接測(cè)量，只能根據(jù)被試在試卷上的表現(xiàn)即最終分?jǐn)?shù)來作出推斷，因此試卷構(gòu)成和題目的設(shè)計(jì)、編排就是至關(guān)重要的一環(huán)。本文主要討論在試卷構(gòu)成和題目的設(shè)計(jì)、編排中如何處理作為語(yǔ)言的一個(gè)重要因素的語(yǔ)法的問題，同時(shí)也要論及語(yǔ)言測(cè)試要測(cè)什么的問題，因?yàn)樗亲鳛榍疤岽嬖诘?，在明確了測(cè)什么的基礎(chǔ)上才能考慮如何測(cè)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《漢語(yǔ)測(cè)試與句法研究探微》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

測(cè)驗(yàn)與反撥
第二語(yǔ)言測(cè)試中的語(yǔ)法測(cè)試問題
民族漢考(一級(jí)、二級(jí))命題中的語(yǔ)法點(diǎn)控制研究
MHK(四級(jí))“聽后寫”題型設(shè)計(jì)理念及實(shí)測(cè)驗(yàn)證
漢語(yǔ)作為第二語(yǔ)言測(cè)試的聽力理解題型設(shè)計(jì)新思考
HSK(改進(jìn)版)[中級(jí)]的構(gòu)想效度研究
HSK(基礎(chǔ))對(duì)編制初級(jí)漢語(yǔ)成績(jī)測(cè)驗(yàn)的啟示
中國(guó)漢語(yǔ)水平考試(HSK)對(duì)漢語(yǔ)作為第二語(yǔ)言教學(xué)的反撥效應(yīng)
句法與應(yīng)用
“向”的目標(biāo)指向圖式和“往”的空間定位圖式——漢語(yǔ)介詞“向”和“往”的區(qū)別探析
領(lǐng)格賓語(yǔ)構(gòu)式“VN的0”探析
對(duì)話語(yǔ)體中自我稱謂的運(yùn)用
評(píng)介與綜述
中國(guó)語(yǔ)檢定考試介紹
日本商務(wù)漢語(yǔ)考試介紹
現(xiàn)代漢語(yǔ)書面語(yǔ)研究綜觀
后記