現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)

第一章測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)
1.1測(cè)量誤差理論
l.1.1測(cè)量過程
1.1.2測(cè)量值的數(shù)學(xué)期望和方差
1.1.3隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)處理
1.1.4標(biāo)準(zhǔn)偏差的傳遞
1.1.5有限次測(cè)量的算術(shù)平均值及其方差
1.1.6測(cè)量結(jié)果的置信概率
1.1.7異常數(shù)據(jù)的剔除
1.1.8測(cè)量不確定度的表征方法
1.2測(cè)量信息論基礎(chǔ)
1.2.1測(cè)量信息論的原理
1.2.2用誤差嫡計(jì)算不確定度
1.2.3采用最大信息嫡原理估計(jì)誤差概率分布
1.3測(cè)量過程的統(tǒng)計(jì)控制
1.3.1基本概念
13.2測(cè)量過程的統(tǒng)計(jì)控制參數(shù)
1.3.3測(cè)量過程統(tǒng)計(jì)控制的檢驗(yàn)方法
1.4校準(zhǔn)方法學(xué)
1.4.1校準(zhǔn)方法
l.4.2計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)
1.4.3校準(zhǔn)類型
1.4.4校準(zhǔn)的要求
1.4.5互檢和檢驗(yàn)
1.4.6儀器特性和校準(zhǔn)測(cè)試
1.4.7對(duì)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的要求
1.5基本的電子標(biāo)準(zhǔn)
1.5.1國(guó)際測(cè)量單位制
1.5.2標(biāo)準(zhǔn)的可溯源性

第二章測(cè)試儀器平臺(tái)
2.1測(cè)試儀器平臺(tái)的基本結(jié)構(gòu)
2.1.1基本概念
2.1.2測(cè)試儀器的信息流程
2.1.3測(cè)試儀器平臺(tái)的結(jié)構(gòu)
2.2傳感器
2.2.1傳感器的通用結(jié)構(gòu)
2.2.2傳感器的分類及轉(zhuǎn)換原理
2.2.3傳感器的主要技術(shù)指標(biāo)
2.3模數(shù)轉(zhuǎn)換器.
2.3.1模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基本概念
2.3.2模數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)誤差和測(cè)試
2.3.3模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)誤差和測(cè)試
2.4測(cè)試信號(hào)的處理
2.4.1基本概念.
2.4.2傅里葉變換,
2.4.3離散傅里葉變換
2.4.4窗口化
2.4.5模擬濾波器
2.4.6數(shù)字濾波器
2.4.7混頻
2.4.8檢波和解調(diào)技術(shù)
2.4.9衰減和放大
2.4.10測(cè)試結(jié)果的類型
2.4.11信號(hào)處理硬件
2.5測(cè)試儀器中的微處理器
2.5.1微處理器在儀器中的作用
2.5.2微處理器在儀器中的工作
2.5.3測(cè)試儀器的硬件結(jié)構(gòu)
2.5.4儀器軟件的編程
2.5.5儀器固件的開發(fā)
2.5.6人機(jī)界面
2.5.7校準(zhǔn)和誤差修正

第三章基本電參量測(cè)量
3.1電壓.電流和電阻測(cè)量?jī)x器
3.1.1引言
3.1.2數(shù)字多用表
3.1.3直流電壓測(cè)量技術(shù)
3.1.4交流電壓測(cè)量技術(shù)
3.1.5電流測(cè)量技術(shù)
3.1.6電阻測(cè)量技術(shù)
3.1.7測(cè)量誤差源
3.1.8電壓表的技術(shù)指標(biāo)
3.2示波器
3.2.1引言
3.2.2通用示波器
3.2.3垂直放大器
3.2.4水平控制（時(shí)基）與觸發(fā)
3.2.5模擬示波器
3.2.6數(shù)字示波器
3.2.7示波器的探頭
3.3功率測(cè)量
3.3.1概述
3.3.2基本的功率定義
3.3.3傳送類功率測(cè)量
3.3.4接收類功率測(cè)量
3.3.5熱敏電阻傳感器及相應(yīng)功率計(jì)
3.3.6熱偶式功率計(jì)
3.3.7二極管功率傳感器
3.3.8峰值功率測(cè)量
3.3.9多反射的影響
3.3.10指標(biāo)
3.3.11校準(zhǔn)

第四章信號(hào)的產(chǎn)生與分析
4.1信號(hào)源
4.1.1信號(hào)的表征與生成方法
4.1.2通用信號(hào)發(fā)生器
4.1.3任意波形合成器
4.1.4微波信號(hào)的生成方法
4.2固態(tài)微波信號(hào)源
4.3頻譜分析儀
4.3.1概述.
4.3.2頻譜儀的工作特性.
4.3.3現(xiàn)代頻譜分析儀的設(shè)計(jì)
4.3.4頻譜儀的附件.
4.4相位噪聲測(cè)量與儀器
4.4.1為什么需要測(cè)量相位噪聲
4.4.2相位噪聲的定義和表示
4.4.3相位噪聲的時(shí)域測(cè)量方法
4.4.4相位噪聲的頻域測(cè)量法
4.4.5相位噪聲的測(cè)量與分析
4.4.6微波信號(hào)源相位噪聲的測(cè)量
4.4.7各種相位噪聲測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試靈敏度的對(duì)比

第五章時(shí)間與頻率測(cè)量
5.1概述
5.1.1時(shí)間與頻率的數(shù)字化測(cè)量
5.1.2時(shí)間與頻率測(cè)量?jī)x器
5.2電子計(jì)數(shù)器的原理與組成
5.2.1基本計(jì)數(shù)器
5.2.2倒數(shù)計(jì)數(shù)器
5.2.3連續(xù)計(jì)數(shù)器
5.2.4微波計(jì)數(shù)器
5.2.5脈沖微波計(jì)數(shù)器
5.3電子計(jì)數(shù)器的主要技術(shù)特性
5.3.l通用計(jì)數(shù)器的技術(shù)特性
5.3.2微波計(jì)數(shù)器的技術(shù)特性
5.4時(shí)間與頻率間隔分析儀
5.4.1概述
5.4.2原理與組成
5.4.3主要技術(shù)特性
5.4.4FTIA的應(yīng)用
5.5時(shí)間與頻率標(biāo)準(zhǔn)
5.5.1概述
5.5.2石英晶體振蕩器
5.5.3原子頻率標(biāo)準(zhǔn)
5.5.4銫C原子頻標(biāo)
5.5.5鉚泡原子頻標(biāo)
5.5.6氫頻率標(biāo)準(zhǔn)和氫脈澤

第六章電路元器件的測(cè)試
6.1阻抗測(cè)試的原理及儀器
6.1.1阻抗測(cè)試技術(shù)和誤差分析
6.1.2連接和隔離
6.1.3阻抗測(cè)試儀器（RLC）
6.2半導(dǎo)體測(cè)試
6.2.1曲線記錄儀
6.2.2源監(jiān)控器（SMU）
6.2.3數(shù)字插頭電子（PE）儀器
6.2.4半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
6.3網(wǎng)絡(luò)分析儀
6.3.1網(wǎng)絡(luò)特性.
6.3.2網(wǎng)絡(luò)分析系統(tǒng)和精度分析
6.3.3標(biāo)量網(wǎng)絡(luò)分析儀
6.3.4矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
6.4微波無源器件
6.4.1同軸傳輸線及同軸無緣器件
6.4.2平行平面?zhèn)鬏斁€及平行平面無源器件
6.4.3波導(dǎo)及波導(dǎo)無源器件

第七章光電子測(cè)試
7.1光信號(hào)的產(chǎn)生及分析
7.1.1光信號(hào)源
7.1.2光功率計(jì)
7.1.3光信號(hào)分析儀
7.1.4光譜分析儀
7.1.5光波偏振分析儀
7.2光學(xué)元件分析儀
7.2.1調(diào)制域元件分析儀
7.2.2波長(zhǎng)城元件分析儀
7.2.3基于反射的元件分析儀
7.3光學(xué)時(shí)域反射計(jì)
7.3.1光學(xué)時(shí)域反射計(jì)原理
7.3.2光學(xué)時(shí)域反射計(jì)的技術(shù)指標(biāo)
7.3.3光學(xué)時(shí)域反射計(jì)的應(yīng)用

第八章數(shù)據(jù)域測(cè)試
8.1數(shù)據(jù)域測(cè)試的概念
8.1.1數(shù)據(jù)域測(cè)試的重要性
8.1.2數(shù)據(jù)域測(cè)試的基本理論及方法簡(jiǎn)述
8.2數(shù)字信號(hào)發(fā)生器
8.2.1數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的作用
8.2.2數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的結(jié)構(gòu)
8.2.3數(shù)據(jù)的產(chǎn)生
8.2.4數(shù)據(jù)流的特征
8.2.5數(shù)字信號(hào)發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)
8.3邏輯分析儀
8.3.1邏輯分析儀的基本組成
8.3.2數(shù)據(jù)的捕獲與觸發(fā)跟蹤
8.3.3數(shù)據(jù)流的高速存儲(chǔ)
8.3.4數(shù)據(jù)的建立時(shí)間和保持時(shí)間
8.3.5數(shù)據(jù)的顯示
8.3.6邏輯分析儀的主要特點(diǎn)及技術(shù)指標(biāo)
8.3.7數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)
8.4規(guī)約分析儀
8.4.1概述
8.4.2通信規(guī)約的結(jié)構(gòu)
8.4.3通信規(guī)約舉例
8.4.4基本結(jié)構(gòu)及操作
8.4.5規(guī)約分析儀的性能指標(biāo)
8.5誤碼率測(cè)試儀
8.5.1基本概念
8.5.2誤碼源
8.5.3誤碼測(cè)量
8.5.4誤碼率測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)
8.5.5誤碼率測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)
8.6可測(cè)性設(shè)計(jì)
8.6.1可測(cè)性的測(cè)度
8.6.2可測(cè)性的改善設(shè)計(jì)
8.6.3結(jié)構(gòu)可測(cè)性設(shè)計(jì)
8.6.4邊緣掃描測(cè)試

第九章計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試（CAT）平臺(tái)
9.1基本概念
9.1.1CAT平臺(tái)
9.1.2CAT平臺(tái)的基本結(jié)構(gòu)
9.1.3程控儀器及接口
9.1.4CAT控制器
9.1.5軟件系統(tǒng)
9.2GPIB接口
9.2.1GPIB的發(fā)展歷史
9.2.2GPIB系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)
9.2.3GPIB總線信號(hào)
9.2.4GPIB接口功能
9.2.5GPIB總線接口消息
9.2.6電氣與機(jī)械特性
9.2.7GPIB控制器.
9.2.8GPIB測(cè)試編程語言
9.3VXlbtiS系統(tǒng)
9.3.1模塊化儀器的標(biāo)準(zhǔn)化
9.3.2機(jī)械結(jié)構(gòu)
9.3.3VXI總線信號(hào)
9.3.4VXI器件
9.3.5VXI總線系統(tǒng)的通信協(xié)議
9.3.6VXI測(cè)試系統(tǒng)
9.4儀器的程控
9.4.1器件數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)化
9.4.2IEEE488.2標(biāo)準(zhǔn)
9.4.3可程控儀器標(biāo)準(zhǔn)命令SCPI
9.5CAT平臺(tái)
9.5.1虛擬儀器
9.5.2儀器驅(qū)動(dòng)器
9.5.3可視化測(cè)試編程環(huán)境
9.5.4開關(guān)器件
9.5.5網(wǎng)絡(luò)連接技術(shù)
9.5.6CAT平臺(tái)實(shí)例
習(xí)題和思考題
第一章習(xí)題和思考題
第二章習(xí)題和思考題
第三章習(xí)題和思考題
第四章習(xí)題和思考題
第五章習(xí)題和思考題
第六章習(xí)題和思考題
第七章習(xí)題和思考題
第八章習(xí)題和思考題
第九章習(xí)題與思考題
參考文獻(xiàn)