PIC18F452微控制器嵌入式設(shè)計

前言
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第1章 引言
1.1 信息處理的革命
1.2 發(fā)展策略
1.3 FLASH存儲技術(shù)
1.4 微控制器特點(diǎn)
第2章 CPU結(jié)構(gòu)
2.1 概述
2.2 哈佛結(jié)構(gòu)
2.3 直接尋址
2.4 間接尋址
2.5 程序存儲器讀操作
2.6 程序指令順序
2.7 CPU及其狀態(tài)位
2.8 特殊功能寄存器(SFR)
習(xí)題
第3章 指令集
3.1 概述
3.2 F/W的區(qū)別
3.3 “分組”操作
3.4 傳送指令
3.5 單操作數(shù)指令
3.6 “與”、“或”、“異或”指令
3.7 算術(shù)運(yùn)算指令
3.8 有條件和無條件分支轉(zhuǎn)移
3.9 條件跳轉(zhuǎn)指令
3.10 子程序調(diào)用和返回指令
3.11 保留指令
習(xí)題
第4章 QWIKFLASH目標(biāo)板
4.1 概述
4.2 QWIKFLASH I/O電路
4.3 QWIKFLASH工具
4.4 調(diào)試支持
第5章 程序開發(fā)(P1例程)
5.1 概述
5.2 TIMERO操作
5.3 程序結(jié)構(gòu)
5.4 LOOPTIME子程序
5.5 BLINKALIVE子程序
5.6 宏
5.7 P1.ASM程序
5.8 免費(fèi)工具
5.9 匯編
5.10 執(zhí)行
習(xí)題
第6章 結(jié)構(gòu)化匯編預(yù)處理器
6.1 概述
6.2 條件編譯和執(zhí)行
6.3 結(jié)構(gòu)化匯編構(gòu)架
6.4 條件測試
6.5 SASM輸入?yún)?shù)
6.6 SASM安裝、執(zhí)行及程序代碼調(diào)試
6.7 P1.ASM修訂
習(xí)題
第7章 字符數(shù)字液晶顯示(P2例程)
7.1 概述
7.2 LCD接口選擇
7.3 初始化
7.4 光標(biāo)定位代碼
7.5 顯示字符串
7.6 LCD字符集
7.7 用戶定義的字符
7.8 顯示調(diào)試輔助程序
7.9 P2.ASM--顯示例程
習(xí)題
第8章 旋轉(zhuǎn)脈沖發(fā)生器
8.1 概述
8.2 RIG分辨率
8.3 RPG功能
8.4 RPG子程序
8.5 速率檢測RPG
習(xí)題
第9章 中斷和中斷時序
9.1 概述
9.2 低優(yōu)先級中斷時序
9.3 低優(yōu)先級中斷結(jié)構(gòu)
9.4 高優(yōu)先級中斷結(jié)構(gòu)
9.5 重要代碼區(qū)
9.6 外部中斷
9.7 PORTB中斷(引腳RB7∶RB4)
習(xí)題
第lO章 模數(shù)轉(zhuǎn)換
10.1 概述
10.2 I/O引腳分配
10.3 ADC輸出格式
10.4 ADC特性及其使用
10.5 ADC的中斷控制
習(xí)題
第11章 I/O引腳設(shè)置
11.1 概述
11.2 數(shù)字輸出引腳功能
11.3 數(shù)字I/O電路
11.4 輸入設(shè)置
習(xí)題
第12章 LCD屏幕(P3例程)
12.1 概述
12.2 按鈕輸入
12.3 Screens子程序
12.4 P3.ASM--屏幕選項程序例程
習(xí)題
第13章 時間間隔測量
13.1 概述
13.2 TIMER1和內(nèi)部時間間隔測量
13.3 DisplayMax子程序
13.4 擴(kuò)展內(nèi)部時間間隔測量
13.5 CCP1和外部時間間隔測量
13.6 CCP1和內(nèi)部時間間隔測量
13.7 擴(kuò)展外部時間間隔測量
13.8 TIMER3和CCP2的使用
13.9 頻率測量
13.10 溫度測量
習(xí)題
第14章 數(shù)學(xué)運(yùn)算子程序
14.1 概述
14.2 乘法
14.3 除法
14.4 乘法/除法子程序的使用
14.5 保持計算精度
14.6 浮點(diǎn)子程序
14.7 浮點(diǎn)子程序的使用
14.8 歸一化子程序
習(xí)題
第15章 串行外設(shè)接口的I/O擴(kuò)展
15.1 概述
15.2 SPI功能
15.3 SPI初始化
15.4 輸出端口擴(kuò)展
15.5 輸入端口擴(kuò)展
15.6 多I/O端口擴(kuò)展
15.7 DAC輸出
15.8 溫度輸入
15.9 主-從互連
習(xí)題
第16章 輸出時間間隔控制(P4例程)
16.1 概述
16.2 時序的外部控制
16.3 周期中斷發(fā)生器
16.4 快速任意方波輸出
16.5 通用任意方波輸出
習(xí)題
第17章 外設(shè)訪問存取總線SMBUS/I上標(biāo)2C
17.1 概述
17.2 SMBUs/I上標(biāo)2C總線說明
17.3 I上標(biāo)2C總線操作
17.4 PICl8F452的I上標(biāo)2C總線傳輸
17.5 I/O擴(kuò)展
17.6 底層I上標(biāo)2C子程序
17.7 I/O擴(kuò)展代碼
17.8 DAC輸出
17.9 數(shù)字溫度計
17.10 舉例
習(xí)題
第18章 通用異步接收發(fā)送器UART
18.1 概述
18.2 信號波形和波特率的精確度
18.3 波特率選擇
18.4 UART數(shù)據(jù)處理電路
18.5 UART初始化
18.6 UART應(yīng)用
習(xí)題
第19章 可編程外設(shè)芯片
19.1 概述
19.2 PIC16C505概述
19.3 鍵盤外設(shè)接口
19.4 主程序和LOOPTIME宏
19.5 鍵按下檢測
19.6 鍵開關(guān)狀態(tài)機(jī)制
19.7 UART宏
19.8 PIC16C505源文件
習(xí)題
第20章 綜合特性
20.1 概述
20.2 配置字節(jié)
20.3 振蕩器選擇
20.4 電源電壓
20.5 低電壓檢測(LVD)
20.6 警戒復(fù)位(BOR)
20.7 看門狗定時器(WDT)
20.8 復(fù)位
20.9 電池電源操作
20.10 定時
20.11 數(shù)據(jù)EEPROM使用
20.12 并行從端口(PSP)
附錄A1 QWIKFLASH開發(fā)板裝配
A1.1 概述
A1.2 微芯的ICD2模塊
A1.3 器件列表
A1.4 開發(fā)板組裝必備工具
A1.5 焊接技巧
A1.6 開發(fā)板結(jié)構(gòu)
A1.7 清除焊劑
A1.8 LCD安裝前的性能驗證
A1.9 安裝LCD
A1.10 性能驗證
A1.11 QWIKBUG性能驗證
附錄A2 用附加的QwikProto板進(jìn)行實(shí)驗室升級
A2.1 板和器件
A2.2 結(jié)構(gòu)
A2.3 引腳使用條件
A2.4 工程概念
A2.5 作者的工作站
附錄A3 MPLAB用戶接口的結(jié)構(gòu)化匯編程序使用
A3.1 安裝SASM
A3.2 Project設(shè)置
A3.3 QWIKADDRESS實(shí)用程序應(yīng)用
附錄A4 QWIKBUG監(jiān)控程序
A4.1 概述
A4.2 資源利用
A4.3 ICD2模塊的QwikBug安裝
A4.4 P16PRO PIC編程器的QwikBug安裝
A4.5 QWIKBUG驗證
A4.6 自啟動特征
A4.7 命令鍵
A4.8 幫助命令(F1或H)
A4.9 復(fù)位命令(F2或T)
A4.10 加載命令(F3或L)
A4.11 顯示命令(F4或D)
A4.12 斷點(diǎn)命令(F5或B)
A4.13 監(jiān)視命令(F6或W)
A4.14 運(yùn)行命令(F7或R)
A4.15 單步命令(F8或S)
A4.16 修改命令(F9或M)
A4.17 修改QwikBug
A4.18 致謝
附錄A5 QwikAddress和QWIKPH實(shí)用程序
A5.1 概述
A5.2 David Flowers的QwikAddress實(shí)用程序
A5.3 CHRIS TWIGG的QWIKPH實(shí)用程序
附錄A6 數(shù)學(xué)子程序的驗證
附錄A7 PIC18F452的C編程應(yīng)用
附錄A8 PIC18F452特殊功能寄存器及其位
附錄A9 器件和封裝
附錄A10 課程組織和實(shí)驗室規(guī)劃
A1O.1 課程安排
A10.2 實(shí)驗室建立
A1O.3 實(shí)驗室設(shè)備
A1O.4 編譯器編碼與構(gòu)造比較，編譯器編碼與C代碼比較
A10.5 10個項目
詞匯表