無機非金屬材料專業(yè)實驗

第1章 測量誤差及實驗數(shù)據(jù)的處理
1.1 誤差
1.2 測量誤差的分類
1.3 系統(tǒng)誤差的消除方法
1.4 有效數(shù)字及其運算
1.5 實驗要求和注意事項
第2章 無機非金屬材料的一般力學和熱學性能及測量
2.1 無機非金屬材料的力學性能
2.2 無機非金屬材料的熱學性能
2.2.1 無機非金屬材料彎曲強度的測試
2.2.2 無機非金屬材料斷裂韌性的測試
2.2.3 導熱系數(shù)的測定
2.2.4 彈性模具、切變模具和泊松比的測定
第3章 無機非金屬材料的一般電學性質及測試原理
3.1 無機非金屬材料的電阻率
3.2 無機非金屬材料的介電系數(shù)
3.3 無機非金屬材料的介質損耗
3.4 無機非金屬材料的絕緣強度
3.5 實驗
3.5.1 陶瓷材料電阻率的測試
3.5.2 低頻介電常數(shù)及介質損耗角正切值的測試
3.5.3 高頻頻介電常數(shù)及介質損耗角正切值的測試
3.5.4 微波介電常數(shù)及介質損耗角正切值的測試
3.5.5 擊穿強度的測定
3.5.6 電容溫度系數(shù)的測試
3.5.7 鐵電陶瓷居里溫度的測量
3.5.8 鐵電陶瓷動態(tài)電滯回線的測試
3.5.9 壓電陶瓷準靜態(tài)壓電系數(shù)的測量
3.5.10 壓電陶瓷機電耦合系數(shù)的測量
3.5.11 陶瓷材料的體積密度、吸水率、氣孔率的測定
第4章 無機非金屬材料物理化學實驗
4.1 差熱分析
4.2 高溫顯微鏡的使用方法
4.3 氣相法研究固相反應
4.4 簡化容量法BET比表面積的測定
4.5 熱重分析
第5章 巖相學實驗
5.1 結晶學基礎實驗
5.1.1 在結晶模型上確定對稱要素和晶族、晶系
5.1.2 晶體定向和晶面符號
5.2 偏光顯微鏡下晶體的光學性質
5.2.1 偏光顯微鏡的基本操作
5.2.2 薄片的制備
5.2.3 單偏光鏡下晶體的性質
5.2.4 正交偏光鏡下晶體的光學性質（一）
5.2.5 正交偏光鏡下晶體的光學性質（二）
5.2.6 錐光顯微鏡下研究晶體的方法
5.3 反光顯微鏡下研究晶體的方法
5.3.1 反光顯微鏡的基本操作
5.3.2 光片的制備
5.3.3 陶瓷材料的相分分析與粒度測定
5.3.4 顯微攝影
第6章 現(xiàn)代材料分析方法
6.1 X射線衍射分析
6.1.1 概述
6.1.2 X射線多晶衍射儀簡介
6.1.3 X射線物相分析
6.1.4 X射線物相定量分析
6.2 掃描電子顯微鏡的基本結構及工作原理
6.2.1 概述
6.2.2 電子束與固體樣品作用時產生的信號
6.2.3 掃描電子顯微鏡的構造、工作原理及主要性能
……
附錄 Kp表