數(shù)字電子技術(shù)實驗（電子信息本科系列教材）

數(shù)字電子技術(shù)實驗操作規(guī)程
第一部分 實驗
1.1
實驗一 脈沖參數(shù)測量
實驗二 門電路的測試
實驗三 譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器的功能測試及應(yīng)用
實驗四 裁判表決電路
實驗五 格雷瑪G轉(zhuǎn)換為二進制碼B的電路設(shè)計
實驗六 優(yōu)先報警電路的設(shè)計
實驗七 循環(huán)碼轉(zhuǎn)換為BCD碼的轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計及其顯示電路
實驗八 發(fā)電機控制電路的設(shè)計
實驗九 組合電路中競爭與冒險的研究
實驗十 觸發(fā)器的測試及其應(yīng)用
實驗十一 四人智力搶答電路
實驗十二 時序邏輯器件功能測試及其簡單應(yīng)用
實驗十三 簡易交通燈控制電路的設(shè)計
實驗十四 流水彩燈電路的設(shè)計
實驗十五 彩燈系統(tǒng)循環(huán)電路
實驗十六 多諧振蕩器和單穩(wěn)態(tài)電路的設(shè)計與調(diào)試
實驗十七 時基電路555應(yīng)用電路的設(shè)計與測試
實驗十八 A/D轉(zhuǎn)換器的測試
實驗十九 D/A轉(zhuǎn)換器的測試及應(yīng)用
實驗二十 存儲器RAM和ROM的測試
1.2 EWB實驗
實驗一 門電路及應(yīng)用
實驗二 編碼、譯碼與顯示電路
實驗三 寄存器和計數(shù)器電路
實驗四 555時基電路構(gòu)成的多諧振蕩器及單穩(wěn)態(tài)電路
實驗五 555時基電路組成的波形發(fā)生器及應(yīng)用
附錄1 Electronics workbench使用介紹
1.3 PLD實驗
實驗一 門電路
實驗二 發(fā)電機控制電路的設(shè)計
實驗三 簡易交通燈控制電路的設(shè)計
實驗四 一位二進制加法器的設(shè)計
實驗五 簡單十進制計數(shù)器的設(shè)計
附錄2 Max+plusⅡ
1.4 綜合性實驗
實驗一 加法計數(shù)電路的設(shè)計
實驗二 簡易直流數(shù)字電壓表的設(shè)計
第二部分 故障檢測和診斷
2.1 數(shù)字電路常見故障檢測和排除
2.2 數(shù)字電路系統(tǒng)的故障檢測和診斷方法
第三部分 常用電子元器件標(biāo)識及其使用簡介
3.1 常用電子元件器件的標(biāo)識
3.1.1 電阻器
3.1.2 電位器
3.1.3 電容器
3.1.4 顯示器件
3.1.5 我國集成電路型號命名規(guī)則
3.1.6 國際數(shù)字集成電路
3.1.7 其他常用電子器件的主要參數(shù)
3.1.8 常用數(shù)字集成電路的簡腳排列圖
3.2 TTL器件和CMOS器件的使用
3.2.1 TTL器件使用規(guī)則
3.2.2 CMOS器件使用規(guī)則
3.2.3 TTL器件、CMOS器件、運算放大器之間的接口電路
第四部分 常用電子測量儀器的使用
4.1 概述
4.1.1 電子測量儀器與被測電路的聯(lián)接原則
4.1.2 使用電子測量儀器的基本要領(lǐng)
4.1.3 電壓測量儀表的選擇原則
4.2 TDS-2002
4.2.1 概述
4.2.2 主要技術(shù)指標(biāo)
4.2.3 面板結(jié)構(gòu)與說明
4.2.4 應(yīng)用實例
4.3 DLBS-1型數(shù)字邏輯箱使用說明
4.3.1 DLBS-1型數(shù)字邏輯箱整體布局
4.3.2 使用簡要說明
4.4 EPM7000S實驗系統(tǒng)使用說明
4.5 VC9807A數(shù)字萬用表使用說明
4.5.1 概述
……
參考文獻