光信息綜合實(shí)驗(yàn)

緒論
0.0.1 實(shí)驗(yàn)教學(xué)的基本要求
0.0.2 實(shí)驗(yàn)室注意事項(xiàng)
第1篇 常用裝置、器件和基本實(shí)驗(yàn)技術(shù)
1.1 常用裝置、器件
1.1.1 光學(xué)防振臺(tái)
1.1.2 光學(xué)部件
1.1.3 機(jī)械部件
1.1.4 常用光源
1.1.5 常用光電探測(cè)器
1.1.6 其他電子儀器
1.2 基本實(shí)驗(yàn)技術(shù)
1.2.1 激光器性能因素
1.2.2 光路調(diào)試的基本技術(shù)
1.2.3 記錄介質(zhì)與處理技術(shù)
第2篇 光信息綜合實(shí)驗(yàn)
2.1 光信息記錄與技術(shù)
實(shí)驗(yàn)一 全息光柵的設(shè)計(jì)、制備和性能測(cè)試
實(shí)驗(yàn)二 全息透鏡的制備及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)三 全息光柵空間頻率的實(shí)時(shí)測(cè)量
實(shí)驗(yàn)四 傅里葉變換計(jì)算機(jī)全息圖
2.2 光信息調(diào)制與技術(shù)
實(shí)驗(yàn)五 磁光調(diào)制及材料磁光特性的測(cè)試.
實(shí)驗(yàn)六 鈮酸鋰(LN)晶體的橫向電光效應(yīng)及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)七 磷酸二氘鉀(KD*P)晶體的縱向電光效應(yīng)及應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)八 聲光調(diào)制與聲光偏轉(zhuǎn)
2.3 光信息處理與技術(shù)
實(shí)驗(yàn)九 光學(xué)圖像相加、相減
實(shí)驗(yàn)十 光學(xué)圖像微分
實(shí)驗(yàn)十一 光學(xué)圖像識(shí)別
實(shí)驗(yàn)十二 黑白膠片記錄和彩色像重現(xiàn)
實(shí)驗(yàn)十三 彩色透明圖片的存儲(chǔ)
實(shí)驗(yàn)十四 液晶光閥用于光學(xué)圖像實(shí)時(shí)加、減、微分
實(shí)驗(yàn)十五 液晶光閥實(shí)時(shí)圖像存儲(chǔ)、相關(guān)處理
實(shí)驗(yàn)十六 實(shí)時(shí)指紋識(shí)別
實(shí)驗(yàn)十七 實(shí)時(shí)傅里葉變換計(jì)算全息
2.4 光學(xué)量精密測(cè)試
實(shí)驗(yàn)十八 激光平面干涉儀測(cè)量光學(xué)面形誤差
實(shí)驗(yàn)十九 橢圓偏振法測(cè)量透明薄膜的光學(xué)常數(shù)和金屬厚膜的復(fù)折射率
實(shí)驗(yàn)二十 用激光散斑測(cè)量微小位移
參考文獻(xiàn)