集成非制冷熱成像探測(cè)陣列

定　價(jià)：￥24.00

作　者：	劉衛(wèi)國(guó)，金娜著
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	制冷工程

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ISBN：	9787118034127	出版時(shí)間：	2004-06-01	包裝：	膠版紙
開(kāi)本：	21cm	頁(yè)數(shù)：	395	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　非制冷熱成像探測(cè)的應(yīng)用覆蓋了從民用到國(guó)防的諸多領(lǐng)域，如紅外制導(dǎo)、目標(biāo)偵察、火控跟蹤以及安全警戒、大氣檢測(cè)等。由于其應(yīng)用的廣泛性，特別是在國(guó)防領(lǐng)域的重要應(yīng)用，國(guó)內(nèi)從20世紀(jì)90年代開(kāi)始了相關(guān)研究。本書(shū)總結(jié)了作者十多年來(lái)在相關(guān)領(lǐng)域的研究成果，并介紹了當(dāng)前研究的新進(jìn)展。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《集成非制冷熱成像探測(cè)陣列》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第一章熱探測(cè)器發(fā)展簡(jiǎn)史
  參考文獻(xiàn)
第二章熱探測(cè)原理
  2.1 熱輻射及熱探測(cè)器基本概念
   2.1.1 熱輻射概念
   2.1.2 熱探測(cè)器的基本參數(shù)
  2.2 熱探測(cè)器的基本結(jié)構(gòu)
  2.3 測(cè)輻射熱計(jì)原理
   2.3.1 偏置效應(yīng)
   2.3.2 測(cè)輻射熱計(jì)的噪聲
   2.3.3 限制測(cè)輻射熱計(jì)性能的主要因素
  2.4 熱釋電探測(cè)原理
   2.4.1 鐵電材料的熱釋電性質(zhì)
   2.4.2 熱釋電探測(cè)模式
   2.4.3 熱釋電響應(yīng)
   2.4.4 熱釋電探測(cè)器的噪聲
   2.4.5 實(shí)際熱釋電探測(cè)器
  參考文獻(xiàn)
第三章熱探測(cè)材料
  3.1 測(cè)輻射熱計(jì)材料
   3.1.1 材料選擇依據(jù)
   3.1.2 常用的測(cè)輻射熱計(jì)材料
  3.2 熱釋電材料
   3.2.1 熱釋電材料選擇的依據(jù)
   3.2.2 常用熱釋電簿膜材料
  參考文獻(xiàn)
第四章熱探測(cè)薄膜制備技術(shù)
  4.1 薄膜制備的基本方法
   4.1.1 常用薄弱沉積方法
   4.1.2 薄膜的生長(zhǎng)過(guò)程
   4.1.3 襯底
   4.1.4 其它薄膜沉積技術(shù)
  4.2 電阻薄膜的沉積
   4.2.1 αSi:H
   4.2.2 VOx薄膜的制備
   4.2.3 非晶YBCO薄膜
  4.3 鐵電薄膜的制備
   4.3.1 化學(xué)溶液法
   4.3.2 濺射
   4.3.3 MOCVD
   4.3.4 脈沖激光沉積技術(shù)（PLD）
  參考文獻(xiàn)
第五章熱探測(cè)器的基本結(jié)構(gòu)與集成制造
第六章熱探測(cè)器陣列的信號(hào)處理
第七章熱探測(cè)器陣我與系統(tǒng)性能測(cè)試
第八章新型熱探測(cè)技術(shù)與熱成像系統(tǒng)的典型應(yīng)用