晶體X射線衍射學(xué)基礎(chǔ)

     目錄
   1X射線的產(chǎn)生和性質(zhì)
    1.1X射線的本質(zhì)
    1.2X射線的產(chǎn)生
    1.3X射線譜
    1.4X射線與物質(zhì)的相互作用
    1.5X射線的探測與防護(hù)
   2幾何晶體學(xué)基礎(chǔ)
    2.1晶體結(jié)構(gòu)與空間點(diǎn)陣
    2.2晶體對(duì)稱的基本概念
    2.3晶面與晶向指數(shù)
    2.4晶體投影
    2.5倒易點(diǎn)陣
    2.6倒易點(diǎn)陣與正點(diǎn)陣的指數(shù)變換
    2.7晶帶
   3X射線衍射的幾何原理
    3.1晶體點(diǎn)陣對(duì)X射線的衍射
    3.2干涉函數(shù)與勞厄方程
    3.3布拉格定律
    3.4衍射矢量方程和厄瓦爾德圖解
   4X射線衍射線束的強(qiáng)度
    4.1一個(gè)電子對(duì)X射線的散射
    4.2一個(gè)原子對(duì)X射線的散射
    4.3單胞對(duì)X射線的散射
    4.4一個(gè)小晶體對(duì)X射線的散射
    4.5粉末多晶體衍射的積分強(qiáng)度
    4.6消光效應(yīng)對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
   5勞厄法及其應(yīng)用
    5.1勞厄相的攝照
    5.2勞厄法成相原理和衍射斑點(diǎn)分布規(guī)律的解釋
    5.3勞厄衍射花樣指數(shù)化
    5.4晶體取向的測定
    5.5晶體的定向安裝和對(duì)稱性的測定
    5.6滑移面和孿生面的測定
   6多晶體衍射的照相方法
    6.1粉末法成相原理
    6.2德拜－謝樂法
    6.3衍射花樣的指數(shù)化
    6.4輻射的選擇
    6.5聚焦照相法
    6.6平面底片照相法
   7X射線衍射儀
    7.1衍射儀的基本組成
    7.2測角儀的工作原理
    7.3晶體單色器
    7.4輻射探測器的工作原理
    7.5計(jì)數(shù)測量中的主要電路
    7.6計(jì)數(shù)測量方法和測量參數(shù)的選擇
    7.7衍射數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的自動(dòng)化
    7.8衍射峰的積分強(qiáng)度
    7.9衍射峰位的確定方法
   8X射線物相分析
    8.1定性相分析
    8.2定量相分析
   9點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
    9.1原理
    9.2德拜－謝樂法的系統(tǒng)誤差
    9.3衍射儀法的主要誤差
    9.4外推法消除系統(tǒng)誤差
    9.5柯亨（M.U.Cohen）最小二乘方法
   10宏觀內(nèi)應(yīng)力的測定
    10.1基本原理
    10.2測試技術(shù)
    10.3應(yīng)力測定中的幾個(gè)相關(guān)問題
   11晶格畸變及衍射線形分析
    11.1衍射線的寬化效應(yīng)
    11.2Ka雙線分離
    11.3實(shí)測衍射峰與物理寬化效應(yīng)的關(guān)系
    11.4衍射峰物理寬化的測定
    11.5晶格畸變量和晶塊尺寸的測定
   12織構(gòu)的測定
    12.1多晶體材料中的織構(gòu)和衍射花樣特征
    12.2極圖及其測繪方法
    12.3反極圖及其測繪方法
    12.4織構(gòu)的取向分布函數(shù)
   13非晶態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)的X射線衍射分析
    13.1非晶態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)的主要特征
    13.2非晶態(tài)結(jié)構(gòu)的徑向分布函數(shù)
    13.3實(shí)驗(yàn)要求和數(shù)據(jù)處理
   附錄
    1.元素的物理性質(zhì)
    2.K系標(biāo)識(shí)譜線的波長、吸收限和激發(fā)電壓
    3.元素的質(zhì)量衰減系數(shù)
    4.原子散射因子
    5.洛倫茲－偏振因子
    6.德拜－瓦洛溫度因子
    7.吸收因子
    8.立方晶系晶面（或晶向）間的夾角
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