毫米波準(zhǔn)光理論與技術(shù)

第1章 高斯束理論
1.1 近軸波動(dòng)方程與高斯束主模
1.2 厄米特-高斯（Hermit－Gauss）模
1.3 拉蓋爾-高斯（Laguerre－Gauss）模
1.4 高斯束的變換
1.5 準(zhǔn)光諧振腔
1.6 口徑天線輻射高斯束分析
1.6.1 圓波紋喇叭輻射高斯束
1.6.2 介質(zhì)加載混合模喇叭輻射高斯束
1.6.3 對(duì)角型角錐喇叭輻射高斯束
1.7 高斯束有效的束腰條件
1.8 關(guān)于高斯束的佯謬
第2章 高斯束校正理論
2.1 攝動(dòng)理論
2.2 復(fù)宗量高斯束與復(fù)源點(diǎn)場
2.3 高斯束校正理論
2.3.1 對(duì)拉蓋爾-高斯模（Laguerre－Gauss）的校正
2.3.2 對(duì)厄米特-高斯束（Hermite－Gauss）的校正
2.4 高斯束之間的關(guān)系
2.5 高斯束校正理論應(yīng)用例子
2.6 矢量場理論
第3章 準(zhǔn)光元部件
3.1 準(zhǔn)光振蕩器
3.2 準(zhǔn)光混頻器與接收機(jī)
3.2.1 超半球透鏡結(jié)構(gòu)準(zhǔn)光分諧波接收機(jī)
3.2.2 準(zhǔn)集成號(hào)角天線接收機(jī)
3.2.3 其他混頻器結(jié)構(gòu)
3.3 準(zhǔn)光放大器
3.3.1 柵格放大器
3.3.2 號(hào)角式放大器
3.4 準(zhǔn)光PIN開關(guān)
3.5 準(zhǔn)光無源元件
3.5.1 介質(zhì)片耦合元件
3.5.2 準(zhǔn)光分束器（線柵）
3.5.3 穿孔板濾波器
3.5.4 波板
3.5.5 roof反射鏡
3.5.6 非互易組件
3.5.7 透鏡
3.5.8 反射鏡
3.6 一些準(zhǔn)光光路組件
3.6.1 雙束干涉計(jì)
3.6.2 Martin－Puplett干涉計(jì)（MPI）
3.6.3 其他元件
3.6.4 極化態(tài)和矩陣算法
3.6.5 阻抗測量電路
3.6.6 MPI用做雙工器
3.7 光路橫向尺寸設(shè)計(jì)考慮
第4章 準(zhǔn)集成天線及其在準(zhǔn)光技術(shù)中的應(yīng)用
4.1 集成電路天線
4.1.1 介質(zhì)基片上的天線
4.1.2 介質(zhì)基片上偶極子激發(fā)表面波的全波分析
4.2 口徑天線
4.2.1 計(jì)算口徑天線輻射場的傅里葉變換法
4.2.2 電、磁源和等效原理
4.2.3 Stratton－Chu公式
4.2.4 交叉極化
4.3 口徑天線輻射場的平面波角譜方法
4.3.1 平面波函數(shù)
4.3.2 口徑天線向半空間的輻射
4.3.3 波導(dǎo)中存在多個(gè)不連續(xù)性的問題
4.3.4 Q矩陣元素的計(jì)算
4.4 準(zhǔn)集成號(hào)角天線分析與應(yīng)用
4.4.1 分析
4.4.1.1 格林函數(shù)
4.4.1.2 電流分布與輸入阻抗
4.4.1.3 口徑場分布
4.4.1.4 臺(tái)階不連續(xù)性分析
4.4.2 應(yīng)用
4.5 幾何射線場方法與準(zhǔn)集成透鏡天線分析
4.5.1 準(zhǔn)集成透鏡天線
4.5.2 射線光學(xué)場方法
4.5.2.1 平面波在平面介質(zhì)交界面上的反射與折射
4.5.2.2 射線追跡
4.5.2.3 幾種天線系統(tǒng)的分析
第5章 準(zhǔn)先焦面陣成像
5.1 圖像的基本描述
5.1.1 灰度
5.1.2 分辨率與瑞利判據(jù)
5.1.3 信噪比
5.1.4 圖像的頻譜
5.1.5 取樣定理
5.2 掃描成像
5.3 焦面陣成像
5.4 幾種焦面成像陣
5.4.1 準(zhǔn)集成號(hào)角焦面成像陣
5.4.2 基片透鏡集成天線成像陣
5.4.3 波紋喇叭焦面陣
5.4.4 縫隙端射天線焦面陣
5.4.4.1 隱蔽武器和炸藥的檢測
5.4.4.2 飛機(jī)自動(dòng)著陸系統(tǒng)
5.4.4.3 焦面陣的其他應(yīng)用
5.5 焦面陣-透鏡成像系統(tǒng)電磁特性分析
5.5.1 波紋喇叭焦面陣-透鏡遠(yuǎn)區(qū)輻射場分析
5.5.2 小f數(shù)光學(xué)系統(tǒng)焦區(qū)場的關(guān)量衍射分析
5.5.2.1 雙曲面聚焦透鏡焦面上的場分布
5.5.2.2 擴(kuò)展半球與擴(kuò)展半橢球透鏡背面上的場分布
5.5.2.3 焦區(qū)繞射斑峰值的移動(dòng)